足立 智

J-GLOBALへ         更新日: 18/09/10 16:02
 
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研究者氏名
足立 智
 
アダチ サトル
所属
北海道大学
部署
大学院工学研究院 応用物理学部門 光波動量子物理工学分野
職名
教授
学位
工学博士(大阪大学), 工学修士(大阪大学)

研究分野

 
 

経歴

 
1991年
 - 
2000年
 姫路工業大学 理学部 助手
 
2000年
 - 
2010年
 北海道大学 大学院工学研究科 准教授
 
2010年
   
 
- 北海道大学 大学院工学研究院 教授
 

学歴

 
 
 - 
1991年
大阪大学 工学研究科 電気工学専攻
 
 
 - 
1988年
大阪大学 工学研究科 電気工学専攻
 
 
 - 
1986年
大阪大学 工学部 電気工学科
 

論文

 
Quadrupolar effect on nuclear spin depolarization in single self-assembled quantum dots
R. Matsusaki, R. Kaji, S. Yamamoto, H. Sasakura, and S. Adachi
Appl. Phys. Express   11(8) 085201/1-5   2018年7月   [査読有り]
In-plane nuclear field formation investigated in single self-assembled quantum dots
S. Yamamoto, R. Matsusaki, R. Kaji, and S. Adachi
Phys. Rev. B   97 075309/1-8   2018年   [査読有り]
Investigation of population dynamics in 1.54-μm telecom transitions of epitaxial (Erx,Sc1-x)2O3 thin layers for coherent population manipulation: weak excitation regime
S. Adachi, Y. Kawakami, R. Kaji, T. Tawara, H. Om
Applied Science   8(6) 874/1-13   2018年   [査読有り]
Effect of isotopic purification on spectral hole narrowing in 167Er3+ hyperfine transitions
T. Tawara, G. Mariani, K. Shimizu, H. Omi, S. Adachi, and H. Gotoh
Appl. Phys. Express   10(4) 042801/1-4   2017年3月   [査読有り]
Excitation energy dependence of initial phase shift in Kerr rotation of resident electron spin polarization in a CdTe single quantum well
L.-P. Yan, T. Takamure, R. Kaji, G. Karczewski, S. Takeyama, and S. Adachi
Phys. Status Solidi B   254(2) 1600449/1-6   2017年2月   [査読有り]

所属学協会

 
 

競争的資金等の研究課題

 
酸化エルビウム結晶におけるポピュレーション操作と量子メモリへの応用
日本学術振興会: 科学研究補助金 基盤研究(B)
研究期間: 2012年4月 - 2015年3月    代表者: 俵 毅彦
スピンコヒーレンスの新規検出法の実証と電子スピン高速制御への展開
日本学術振興会: 科学研究費補助金 挑戦的萌芽研究
研究期間: 2012年4月 - 2014年3月    代表者: 足立 智
半導体核スピンの全光ナノプローブ技術と実時間イメージング技術の開発
日本学術振興会: 科学研究費補助金基盤研究(B)(一般)
研究期間: 2010年4月 - 2013年3月    代表者: 足立 智
量子ドットにおける核スピンの双安定性を利用した量子ビット変換
テレコム先端技術研究支援センター: 研究助成
研究期間: 2008年4月 - 2011年3月    代表者: 足立 智
ワイドギャップ半導体結晶における歪の高感度空間マッピング
日本学術振興会: 科学研究費補助金 萌芽研究
研究期間: 2006年4月 - 2007年3月    代表者: 足立 智

特許

 
光計測評価方法及び光計測評価装置
2004-331123
「光計測評価方法および光計測評価装置」(世界知的所有権)
PCT/JP2005/020410
位相干渉計測手法及び位相干渉計測装置
2006-128277