2014年7月
Analysis of X-ray diffraction parameters near crack-tip
IC-TEMS2014
- 記述言語
- 英語
- 会議種別
- 口頭発表(招待・特別)
き裂先端のような極めて応力ひずみ分布の勾配が大きな領域に対して特定の大きさの領域について,回折法にて応力測定した場合,測定される応力に及ぼす照射領域寸法の影響を解析的に示すとともに,回折プロファイルに及ぼす照射領域寸法の影響を明らかにした。