MISC

2019年9月4日

InGaNの表面‐バルク電子状態評価

応用物理学会秋季学術講演会講演予稿集(CD-ROM)

井村将隆
津田俊輔
長田貴弘
山下良之
吉川英樹
小林啓介
小出康夫
太田優一
村田秀信
山口智広
金子昌充
荒木努
名西やすし

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巻: 80th
号
開始ページ: ROMBUNNO.18a‐PB3‐23
終了ページ
記述言語: 日本語
掲載種別

リンク情報

J-GLOBAL: https://jglobal.jst.go.jp/detail?JGLOBAL_ID=201902227751641284

ID情報

J-Global ID : 201902227751641284

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