一色俊之 (Toshiyuki Isshiki) - マイポータル

基本情報

所属: 京都工芸繊維大学電気電子工学系教授

学位: 工学修士(京都工芸繊維大学)
博士(学術)(京都工芸繊維大学)

J-GLOBAL ID: 200901099341498826
researchmap会員ID: 1000162959

研究キーワード

研究分野

経歴

学歴

委員歴

1999年 - 2000年

日本顕微鏡学会, カソードルミネッセンス研究部会代表幹事

受賞

論文

146

Micro-Raman spectroscopy of bending stresses in β-Ga₂O₃(001) wafer

Noriyuki Hasuike, Issei Maeda, Sou Isaji, Kenji Kobayashi, Kentaro Ohira, Toshiyuki Isshiki

Japanese Journal of Applied Physics 62(SF) SF1020-1-SF1020-5 2023年4月14日査読有り最終著者
Relationship Between Propagation Angle of Dislocations in β-Ga2O3 (001) Bulk Wafers and Their Etch Pit Shapes

Sou Isaji, Issei Maeda, Naoya Ogawa, Ryo Kosaka, Noriyuki Hasuike, Toshiyuki Isshiki, Kenji Kobayashi, Yongzhao Yao, Yukari Ishikawa

Journal of Electronic Materials 52(8) 5093-5098 2023年3月29日査読有り責任著者
Broadband Optical Amplification of Waveguide Cut‐Off Mode in Polymer Waveguide Doped with Graphene Quantum Dots

Tsukasa Nagafusa, Yuya Hara, Koji Nishio, Toshiyuki Isshiki, Kenichi Yamashita

Advanced Optical Materials 10(15) 2200255-1-2200255-6 2022年5月2日査読有り
Crystal structure analysis of stacking faults through scanning transmission electron microscopy of β-Ga2O3 (001) layer grown via halide vapor phase epitaxy

Kenichi Ogawa, Kenji Kobayashi, Noriyuki Hasuike, Toshiyuki Isshiki

Journal of Vacuum Science & Technology A 40(3) 032701-1-032701-10 2022年4月12日査読有り
Formation of various-axis-oriented wurtzite nuclei and enlargement of the a-axis-oriented region in AlFeN films deposited on Si(100) substrates

Saki Imada, Toshiyuki Isshiki, Nobuyuki Tatemizo, Koji Nishio, Shuichi Mamishin, Yuya Suzuki, Katsuji Ito, Kiyofumi Nitta, Hiroki Suga, Oki Sekizawa …

Materials Advances 2(12) 4075-4080 2021年査読有り
Three-Dimensional Observation of Internal Defects in a β-Ga2O3 (001) Wafer Using the FIB–SEM Serial Sectioning Method

Kenichi Ogawa, Naoya Ogawa, Ryo Kosaka, Toshiyuki Isshiki, Yongzhao Yao, Yukari Ishikawa

Journal of Electronic Materials 49(9) 5190-5195 2020年7月18日査読有り
Structural Characterization of Prismatic Stacking Faults of Two Types of Carrot Defects in 4H-SiC Epi Wafers

Hideki Sako, Kentaro Ohira, Kenji Kobayashi, Toshiyuki Isshiki

Materials Science Forum 1004 421-426 2020年7月査読有り最終著者
AFM Observation of Etch-Pit Shapes on β-Ga2O3 (001) Surface Formed by Molten Alkali Etching

Kenichi Ogawa, Naoya Ogawa, Ryo Kosaka, Toshiyuki Isshiki, Toru Aiso, Masato Iyoki, Yong Zhao Yao, Yukari Ishikawa

Materials Science Forum 1004 512-518 2020年7月査読有り
Defects Characterization of GaN Substrate with Hot Implant Process

Junko Maekawa, Hitoshi Kawanowa, Masahiko Aoki, Katsumi Takahiro, Toshiyuki Isshiki

Materials Science Forum 1004 497-504 2020年7月査読有り最終著者
Review and Detail Classification of Stacking Faults in 4H-SiC Epitaxial Layer by Mirror Projection Electron Microscopy

Kentaro Ohira, Toshiyuki Isshiki, Hideki Sako, Masaki Hasegawa, Kenji Kobayashi, Katsunori Onuki

Materials Science Forum 1004 314-320 2020年7月査読有り
Microstructure of Stacking Fault Complex/Carrot Defects at Interface Between 4H-SiC Epitaxial Layers and Substrates

Hideki Sako, Kenji Kobayashi, Kentaro Ohira, Toshiyuki Isshiki

Journal of Electronic Materials 49(9) 5213-5218 2020年5月13日査読有り最終著者
Electronic structure of AlFeN films exhibiting crystallographic orientation change from c- to a-axis with Fe concentrations and annealing effect

Nobuyuki Tatemizo, Saki Imada, Kizuna Okahara, Haruki Nishikawa, Kazuki Tsuruta, Toshiaki Ina, Yoshio Miura, Koji Nishio, Toshiyuki Isshiki

SCIENTIFIC REPORTS 10(1) 1819-1819 2020年2月査読有り最終著者
Observation of Dislocation Conversion in 4H-SiC Epitaxial Wafer by Mirror Projection Electron Microscopy

Toshiyuki Isshiki, Takahiro Sato, Masaki Hasegawa, Kentaro Ohira, Kenji Kobayashi, Atsushi Miyaki, Katsunori Onuki

Materials Science Forum 963 251-254 2019年7月査読有り筆頭著者
Wurtzite [11-20]-oriented AlFeN films prepared by RF sputtering

N. Tatemizo, S. Imada, K. Nishio, T. Isshiki

AIP Advances 8(11) 2018年11月1日
Observation of a Latent Scratch on Chemo-Mechanical Polished 4H-SiC Wafer by Mirror Projection Electron Microscopy

Toshiyuki Isshiki, Masaki Hasegawa, Takahiro Sato, Kenji Kobayashi, Atsushi Miyaki, Masato Iyoki, Takehiro Yamaoka, Katsunori Onuki

Materials Science Forum 924 543-546 2018年6月査読有り筆頭著者
Crystal Defect Analysis of Latent Scratch Induced during CMP Process on 4H-SiC Wafer Using Electron Microscopy

Takahiro Sato, Hiroaki Matsumoto, Seiichi Suzuki, Toshiyuki Isshiki, Nakamura Kuniyasu

Materials Science Forum 924 531-534 2018年6月査読有り
Chemical Trend in Band Structure of 3d-Transition-Metal-Doped AlN Films

Nobuyuki Tatemizo, Saki Imada, Yoshio Miura, Koji Nishio, Toshiyuki Isshiki

Materials Science Forum 924 322-325 2018年6月査読有り最終著者
Crystallographic properties and electronic structure of V-doped AlN films that absorb near ultraviolet-visible-infrared light

N. Tatemizo, S. Imada, Y. Miura, K. Nishio, T. Isshiki

Journal of Applied Physics 123(16) 2017年12月15日査読有り最終著者
Au-nanoparticle-embedded cross-linked gelatin films synthesized on aqueous solution in contact with dielectric barrier discharge

Tatsuru Shirafuji, Yusuke Nakamura, Shiori Azuma, Naoya Sotoda, Toshiyuki Isshiki

Japanese Journal of Applied Physics 57(1) 0102BE-0102BE 2017年12月11日査読有り最終著者
High quality lamella preparation of gallium nitride compound semiconductor using Triple Beam™ system

T Sato, K Nakano, H Matsumoto, S Torikawa, I Nakatani, M Kiyohara, T Isshiki

Journal of Physics: Conference Series 902 012019-012019 2017年9月査読有り最終著者

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講演・口頭発表等

β-Ga2O3 (001) エピタキシャル基板における Arrowhead 型エッチピットに対応する結晶欠陥解析

寺田文軌, 蓮池紀幸, 一色俊之, 小林健二, 藤谷武史, 石川由加里, 姚永昭

応用物理学会2025年春季学術講演会 2025年3月15日
Relationship between contrast formation in the mirror electron images and the distribution of crystal defects in polishing damage introduced on the surface of 4H-SiC wafers

H. Sako, S. Hayashi, K. Ohira, K. Kobayashi, T. Isshiki

International Conference of Silicon Carbide and Related Materials（ICSCRM2024) 2024年10月1日
β-Ga2O3 (001) エピタキシャル基板における Wake 型エッチピットに対応する積層欠陥解析

寺田文軌, 蓮池紀幸, 一色俊之, 小林健二, 藤谷武史, 石川由加里, 姚永昭

応用物理学会2024年秋季学術講演会 2024年9月19日
β-Ga2O3(001)エピタキシャル基板中のArrowhead型エッチピットの転位線断面観察

伊佐治颯, 寺田文軌, 野坂竜司, 蓮池紀幸, 一色俊之, 小林健二, 藤谷武史, 姚永昭, 石川由加里

応用物理学会2024年春季学術講演会 2024年3月24日
曲げ応力を印加したβ-Ga2O3(001)基板の顕微ラマン測定による断面応力分布評価

前田一誠, 園田友基, 蓮池紀幸, 一色俊之, 小林健二

応用物理学会2023年秋季学術講演会 2023年9月21日
β-Ga2O3単結晶におけるラマンスペクトルの温度依存性

古本航, 前田一誠, 伊佐治颯, 蓮池紀幸, 一色俊之, 小林健二

応用物理学会2023年春季学術講演会 2023年3月17日

所属学協会

共同研究・競争的資金等の研究課題

マイクロ流路内輸送型液中プラズマの生成と制御

日本学術振興会科学研究費助成事業基盤研究(B) 2015年4月 - 2018年3月

白藤立, 後藤元信, 立花亮, 田中健司, 一色俊之, 今井伸一, 澤田康志, 加藤英一, 高橋浩司
高温高分解能電子顕微鏡法によるセラミックス電子材料の焼成過程の動的観察

日本学術振興会科学研究費助成事業奨励研究(A) 2000年 - 2001年

一色俊之
高分解能電子顕微鏡像コントラストと回折強度の精密測定による不規則系物質の解析

日本学術振興会科学研究費助成事業基盤研究(A) 1996年 - 1998年

塩尻詢, 西尾弘司, 一色俊之, 西城浩志, 遠藤久満, 熊尾章宏
分光増感色素J-凝集体の結晶構造とハロゲン化銀結晶表面における配向吸着解析

日本学術振興会科学研究費助成事業基盤研究(B) 1996年 - 1997年

西城浩志, 一色俊之
アモルファス薄膜の精密構造解析と生成と結晶化過程の動的シミュレーション

日本学術振興会科学研究費助成事業奨励研究(A) 1995年 - 1995年

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