基本情報

所属
山口大学 山口大学 大学院理工学研究科（工学） 大学院理工学研究科（物質工学系学域）（工学） 量子デバイス工学分野 大学院担当准教授
岐阜大学 助手
University of Strathclyde Research Assistant
学位
博士(理学)(その他)
修士(理学)(その他)
研究者番号
90233444
J-GLOBAL ID
200901025399106835
researchmap会員ID
1000163980
外部リンク

研究キーワード

  1

研究分野

  1

経歴

  4

学歴

  2

論文

  39
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MISC

  4

書籍等出版物

  2

講演・口頭発表等

  19

担当経験のある科目(授業)

  15

共同研究・競争的資金等の研究課題

  4

その他

  1
  • 1. 欠陥密度の異なる a-Si:H 系膜を作製し、ルミネッセンスの寿命分解測定を行う。<br>2. 光照射した a-Si:H 系膜についてルミネッセンスの寿命分解測定を行い、光照射前と比較する。<br>3. 共同研究者に電子スピン共鳴の測定を依頼して、欠陥の一つであるシリコンの中性ダングリングボンドの密度を測定する。<br>4. a-Si:H 系膜の光誘起生成欠陥の密度と低エネルギールミネッセンスの強度、寿命分布の関連を調べる。<br>5. a-Si:H 系膜の低エネルギールミネッセンスに関連する欠陥、電子状態および光照射による影響について考察し、光誘起現象について解明する。<br> <br>以上いずれも一定の範囲で実施しているが、より詳しい情報を得るため今後も測定条件等の範囲を広げて継続する必要がる。