花井孝明 (Takaaki Hanai) - マイポータル

基本情報

学位: 工学博士(名古屋大学)

J-GLOBAL ID: 200901007155376026
researchmap会員ID: 1000201047

研究キーワード

研究分野

経歴

2001年4月 - 現在

鈴鹿工業高等専門学校, 電気電子工学科, 教授
1998年4月 - 2000年3月

名古屋大学, 工学（系）研究科, 講師
1982年4月 - 1989年4月

名古屋大学, 工学部, 助手
1982年 - 1989年

Nagoya University, Research Assistant1989-2001 Nagoya University, Assistant Professor2001- Suzuka National College of Technology, Professor

学歴

- 1982年

名古屋大学, 工学研究科, 電気工学・電子工学及び電気工学第二
- 1982年

名古屋大学
- 1977年

名古屋大学, 工学部, 電気・電子工学及び電気第二学科
- 1977年

名古屋大学

委員歴

1990年 - 1996年

日本学術振興会マイクロビームアナリシス第141委員会, 運営委員

論文

Deconvolution of Electron Microscope Images with a Maximum Entropy Method Constrained by the Spatially Random Distribution of Quantum Noise (創立50周年記念号)

花井孝明, 小林昭久, 盛永健規, 日比野倫夫

鈴鹿工業高等専門学校紀要 46 39-43 2013年査読有り
鈴鹿高専における国際化教育への取り組み

花井孝明, 桑原裕史, 近藤邦和, 箕浦弘人, 伊藤明, 近藤一之, 江崎尚和, 川口雅司, 井上哲雄, Michael E. LAWSON

工学教育 56(3) 68-73 2008年査読有り
専門教育への動機付けを目指した電気電子工学実験のテーマおよび実施法

北村登, 鈴木昌一, 柴垣寛治, 花井孝明

工学教育 54(2) 104-109 2006年査読有り
Characteristics and effectiveness of a foil lens for correction of spherical aberration in scanning transmission electron microscopy

T Hanai, H Yoshida, M Hibino

JOURNAL OF ELECTRON MICROSCOPY 47(3) 185-192 1998年査読有り
INCREASE OF CURRENT-DENSITY OF THE ELECTRON-PROBE BY CORRECTION OF THE SPHERICAL-ABERRATION WITH A SIDE-ENTRY TYPE FOIL LENS

T HANAI, S ARAI, M HIBINO

JOURNAL OF ELECTRON MICROSCOPY 44(5) 301-306 1995年10月査読有り
Detection System for Fast STEM Elemental Mapping Using Parallel EELS with a Moderate-Scale Detector

HIBINO Michio, HANAZAWA Satoshi, TANAKA Shigeyasu, HANAI Takaaki

Microbeam Analysis 3(6) 299-303 1994年査読有り
Effect of the Three-fold Astigmatism on the Foil Lens Used for Correction of the Spherical Aberration of a Probe-forming Lens

HANAI Takaaki, HIBINO Michio, MARUSE Susumu

Optik 97(2) 86-90 1994年査読有り
MEASUREMENT OF AXIAL GEOMETRICAL ABERRATIONS OF THE PROBE-FORMING LENS BY MEANS OF THE SHADOW IMAGE OF FINE PARTICLES

T HANAI, M HIBINO, S MARUSE

ULTRAMICROSCOPY 20(3) 329-336 1986年査読有り
Reduction of the Probe Diameter through the Correction of Spherical Aberration by the Foil Lens

HANAI Takaaki, HIBINO Michio, MARUSE Susumu

Journal of Electron Microscopy 33(4) p329-334 1984年査読有り
Effect of the Spherical Aberration on Electron Probe Size

HANAI Takaaki, HIBINO Michio

Journal of Electron Microscopy 33(2) p116-122 1984年査読有り
NUMERICAL EVALUATIONS OF CHARACTERISTICS OF THE FOIL LENS IN CORRECTING THE SPHERICAL-ABERRATION OF THE OBJECTIVE LENS OF A CONVENTIONAL TRANSMISSION ELECTRON-MICROSCOPE

M KUZUYA, T HANAI, M HIBINO, S MARUSE

JOURNAL OF ELECTRON MICROSCOPY 31(1) 18-26 1982年査読有り
Improvement of an Electron Probe Profile Using the Foil Lens

HANAI Takaaki, HIBINO Michio, MARUSE Susumu

Journal of Electron Microscopy 31(4) p360-367 1982年査読有り
Characteristics of the Foil Lens for the Correction of the Spherical Aberration of the Strongly Excited Magnetic Lens

HIBINO Michio, SUGIYAMA Setsuko, HANAI Takaaki, MARUSE Susumu

J. Electron Microscopy 27(4) 259-265 1978年査読有り
Correction of the Spherical Aberration of a Magnetic Lens Using a Foil Lens

HIBINO Michio, SUGIYAMA Setsuko, HANAI Takaaki, MARUSE Susumu

J. Electron Microscopy 26 49-52 1977年査読有り

書籍等出版物

電気磁気学

後藤俊夫, 佐藤照幸, 菅井秀郎, 花井孝明, 永津雅章, 大久保仁 (担当:共著, 範囲:第1章，第2章)

朝倉書店 2014年10月 (ISBN: 9784254220513)
新インターユニバーシティ電磁気学Ⅰ

藤原修, 金丸保則, 花井孝明, 水野幸男 (担当:共著, 範囲:第1章，第2章)

オーム社 2013年3月 (ISBN: 9784274213533)

講演・口頭発表等

Effect of Line Configuration on Lightning Flashover Characteristics of Electric Power Line with Insulated Covered Conductor

YAMAMOTO K, KUNIEDA Y, HANAI T, KAWASAKI Z, USHIO T

Proc. 15th Int. Symposium on High Voltage Engineering 2007年
Phase contrast Transfer Fuction of Spherical Aberration COrrected Objective Lens

HANAI Takaaki, HIBINO Michio

Electron Microscopy 2002 2002年
Deconvolution and Noise Reduction in Electron Microscope Images with a Modified Maximum Entropy Method

HIBINO M, NISHIKAWA D, NAGAMI E, IIYOSHI R, KITAMURA T, TANJI T, HANAI T

Electron Microscopy 2002 2002年
Reduction of Spherical Aberration of a Transmission Electron Microscope by Means of a Foil Lens (共著)

HANAI Takaaki, MICHISHITA Kenya, MATSUSHITA Yoshinori, HIBINO Michio

Electron Microscopy 1998 1998年
Deconvolution and Noise Reduction in Electron Microscope Images with a Makimum Entropy Method Constrained by the Random Spatial Distribution of the Noise(共著)

HANAI Takaaki, KOBAYASHI Akihisa, HIBINO Michio

Proc. Int. Symposium on Hybrid Analyses for Functional Nanostructure 1998年
5a-X-1 Imaging Plateを用いた有機物結晶の電子照射損傷の測定

仙石昌也, 有井達夫, 花井孝明, 大野完

日本物理学会講演概要集 1997年9月16日
Maximum Entropy Restoration of Electron Microscope Images with Random Spatial Distribution Constraint

HANAI Takaaki, HIBINO Michio

15th Pfefferkorn Conference on Electron Image and Signal Processing 1996年
Characteristics and Effectiveness of a Foil Lens in Correcting the Spherical Aberration of Electron Probe Instruments

HANAI Takaaki, YOSHIDA Hidetoshi, HIBINO Michio

4th Int. Conf. Charged Particle Optics Abstracts 1994年
STEM Elemental Mapping System Using PEELS of a Moderate-scale Detector (共著)

HIBINO M, HANAZAWA S, KIMURA H, KATAOKA A, HANAI T

Electron Microscopy 1994 1994年
Improvement of Maximum Entropy Method for Reduction of the Statistical Noise in Electron Microscope Images (共著)

HANAI Takaaki, MORINAGA Takenori, Hattori Akihisa, HIBINO Michio

Electron Microscopy 1994 1994年
Spectrum-acquisition Imaging System for STEM Elemental Mapping Using PEELS with a Moderate-scale Detector(共著)

HIBINO Michio, HANAZAWA Satoshi, KIMURA Hitoshi, TANAKA Shigeyasu, HANAI Takaaki

Recent Development of Electron Microscopy 1993 1993年
The Signal to Noise Ratio of Low Dose Images Observed by TEM and STEM(共著)

HIBINO M, KOHYAMA T, HANAI T

Proc. 5th Asia-Pacific Electron Microscopy Conference 1992年
Side-entry Type Foil Lens for Correction of Spherical Aberration of Probe-forming Lens(共著)

HIBINO M, ARAI S, KUROSE N, HANAI T

Recent Development of Electron Microscopy 1991 1991年
Improvement of STEM Images by Means of Elimination of Influence of Statistical Fluctuation in Incident Electrons (共著)

HIBINO M, SUZUKI T, HANAI T, MARUSE S

Electron Microscopy 1990 1990年
Foil Lens -Correction of Spherical Aberration- (共著)

HIBINO M, HANAI T

Electron Microscopy 1986 1986年
A Shadow Image Method for Measurements of Axial Geometrical Aberrations of a Probe-forming Lens (共著)

HANAI Takaaki, HIBINO Michio, MARUSE Susumu

Electron Microscopy 1986 1986年
Correction of the Spherical Aberration in Electron Microscopy by Means of the Foil Lens (共著)

HIBINO Michio, KUZUYA Mikio, HANAI Takaaki, MARUSE Susumu

Electron Microscopy 1982 1982年
Characteristics of the Foil Lens for the Correction of the Spherical Aberration and Its Application to STEM(共著)

HIBINO Michio, KUZUYA Mikio, HANAI Takaaki, MARUSE Susumu

Electron Microscopy 1978 1978年

担当経験のある科目(授業)

共同研究・競争的資金等の研究課題

薄膜レンズを用いた球面収差補正による電子顕微鏡の高分解能化

文部科学省科学研究費補助金(基盤研究(C)) 基盤研究(C) 1999年 - 2000年

花井孝明, 室岡義栄, 田中成泰
実時間電子線微分干渉顕微鏡法の開発と磁性材料への応用

文部科学省科学研究費補助金(基盤研究(B)) 基盤研究(B) 1997年 - 1999年

丹司敬義, 木村啓子, 富田正弘, 平山司, 花井孝明
電子顕微鏡像の最大エントロピー修復による構造解析法の研究

文部科学省科学研究費補助金(基盤研究(C)) 基盤研究(C) 1997年 - 1998年

花井孝明, 室岡義栄, 田中成泰
高輝度・高解像度電子顕微鏡観察YAGスクリーンに関する基礎研究

文部科学省科学研究費補助金(一般研究(B), 基盤研究(B)) 一般研究(B), 基盤研究(B) 1995年 - 1996年

日比野倫夫, 田中成泰, 花井孝明, 木村啓子, 丹司敬義
最大エントロピー法を用いた画像修復による電子顕微鏡の高解像化に関する研究

文部科学省科学研究費補助金(一般研究(C), 基盤研究(C)) 一般研究(C), 基盤研究(C) 1995年 - 1996年

花井孝明, 小粥啓子, 田中成泰
球面収差補正用サイドエントリ-薄膜レンズによる走査透過電子顕微鏡の高分解能化

文部科学省科学研究費補助金(試験研究(B)) 試験研究(B) 1993年 - 1995年

花井孝明, 杉山せつ子, 田中成泰, 日比野倫夫
薄膜レンズを用いた透過電子顕微鏡用対物レンズの球面収差補正に関する基礎研究

文部科学省科学研究費補助金(一般研究(C)) 一般研究(C) 1993年 - 1994年

花井孝明, 田中成泰, 日比野倫夫
高感度・高解像度元素マッピング像観察の研究

文部科学省科学研究費補助金(一般研究(B)) 一般研究(B) 1992年 - 1993年

日比野倫夫, 杉山せつ子, 花井孝明
磁界重畳型電界放出電子銃の装備による超低加速電子線プローブ応用装置の超高性能化

文部科学省科学研究費補助金(一般研究(A)) 一般研究(A) 1991年 - 1993年

下山宏, 花井孝明, 内川嘉樹, 日比野倫夫, 大江俊美, 池田晋
試料損傷のない高解像度電子顕微鏡観察法の研究

文部科学省科学研究費補助金(一般研究(A)) 一般研究(A) 1987年 - 1989年

日比野倫夫, 内川嘉樹, 花井孝明, 杉山せつ子, 下山宏, 丸勢進
高性能低加速電子銃の開発に関する研究

文部科学省科学研究費補助金(試験研究) 試験研究 1986年 - 1987年

丸勢進, 花井孝明, 下山宏, 内川嘉樹, 日比野倫夫
球面収差補正用薄膜レンズを用いた走査透過電子顕微鏡の高分解能化に関する研究

文部科学省科学研究費補助金(試験研究) 試験研究 1986年 - 1987年

日比野倫夫, 花井孝明, 杉山せつ子, 下山宏