共同研究・競争的資金等の研究課題

2007年 - 2009年

透過電子顕微鏡内近接場分光法による半導体ナノ構造体の光学特性の評価

日本学術振興会  科学研究費助成事業 基盤研究(B)
  • 大野 裕
  • ,
  • 米永 一郎
  • ,
  • 太子 敏則
  • ,
  • 河野 日出夫
  • ,
  • 河野 日出夫
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  • 米永 一郎
  • ,
  • 太子 敏則

課題番号
19310072
配分額
(総額)
19,890,000円
(直接経費)
15,300,000円
(間接経費)
4,590,000円

透過電子顕微鏡内における顕微鏡観察位置に接触させた金属探針へのレーザー光の照射により、顕微鏡観察下で観察領域に局在近接場光を形成する装置を開発しました。この装置を応用し、酸化亜鉛中の転位(1次元ナノ構造体の一種)の電子状態をその場評価しました。光照射による転位のすべり運動の解析から、らせん転位の局在準位が深さ約2.5eVと分かりました。本手法が、個々のナノ構造体の原子構造と電子状態の直接同時評価に適応できることが示されました。

リンク情報
Kaken Url
https://kaken.nii.ac.jp/file/KAKENHI-PROJECT-19310072/19310072seika.pdf