川畑州一 (Shuichi Kawabata) - マイポータル

基本情報

学位: 理学博士(学習院大学)

J-GLOBAL ID: 200901038600543429
researchmap会員ID: 1000211514

外部リンク: http://www.t-kougei.ac.jp/engineering/index.html

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研究分野

ナノテク・材料 / 光工学、光量子科学 /

MISC

偏光解析法によるアルミニュウムオフセット印刷板のシリケート処理に関する研究

日本応用物理 39 5239-5243 2000年
HtmlとJavaによる物理学電子テキストの作成

川畑州一, Shuichi KAWABATA, 東京工芸大学工学部基礎・教養

東京工芸大学工学部紀要 23(1) 19-25 2000年
Ellipsometric Study of Silicate Treatment of Aluminum offset Printing Plates

Shuichi Kawabata, Toshio Sugai, Kazuo Futami

Jpn. J. Appl. Phys. 39(9A) 5239-5242 2000年
HtmlとJavaによる物理学電子テキストの作成

川畑州一, Shuichi KAWABATA, 東京工芸大学工学部基礎・教養

東京工芸大学工学部紀要 = The Academic Reports, the Faculty of Engineering, Tokyo Polytechnic University 23(1) 19-25 2000年
In-Situ Ellipsometric Observations of Thickness Change in the Layers of Ag/a-As₂S₃Film System with Progression of Photodoping(共著)

Yoshihisa Murakami, Tsutomu Ogawa, Moriaki Wakaki, Shuichi Kawabata

Jpn.J.Appl.Phys. 39(2A) 509-510 2000年
Observation of silver film growth using an in situ ultra-high vacuum spectroscopic ellipsometer

S Kawabata, K Ishihara, Y Hoshi, T Fukazawa

THIN SOLID FILMS 313 516-521 1998年2月
Calibration method of the specific characteristic of an electronic system of a rotating-analyger ellipsometer

Applied Optics 38(10) 2178 1997年
Observation of the initial Stage of Ion Assisted Deposition Films Using a Rotating-Analyzer Ellipsometes

Takehisa Shibuya, Shuichi Kawabata, Hitoshi Yoshizawa, Satoshi Suzuki, Naoji Amano, Hideshi Yokota

Jpn. J. Appl. Phys. 35(8) 4556-4560 1996年
Alignment method for rotating analyzer ellipsometry

J. Opt. Soc. Am A 4(4) 664 1987年
Improved measurement method in rotating analyzer ellipsometry

J. Opt. Soc. Am A 1(4) 706 1984年

書籍等出版物

速解光サイエンス辞典(分担)

オプトロニフス社 1998年

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