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四柳 浩之
ヨツヤナギ ヒロユキ (Hiroyuki Yotsuyanagi)
更新日: 04/17
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産業財産権
産業財産権
6
表示件数
20件
20件
50件
100件
特開2018-206829 半導体装置、及び半導体集積回路
矢崎 徹, 植松 裕, 池田 康浩, 橋爪 正樹, 四柳 浩之, 伊喜利 勇貴
特許第4437719号 半導体集積回路、スキャン回路設計方法、テストパターン生成方法、および、スキャンテスト方法
口井 敏匡, 四柳 浩之
特許第4232250号 ディジタル電子計算機回路の故障検査方法
橋爪 正樹, 四柳 浩之, 為貞 建臣, 茅原 敏広, 田坂 英司
特開2008-122338 電子回路の配線故障検査法とその検査容易化回路
橋爪 正樹, 一宮 正博, 四柳 浩之
特開2006-047013 半導体集積回路、スキャン回路設計方法、テストパターン生成方法、および、スキャンテスト方法
口井 敏匡, 四柳 浩之
特開2000-207239 ディジタル電子計算機回路の故障検査方法
橋爪 正樹, 四柳 浩之, 為貞 建臣, 茅原 敏広, 田坂 英司
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