Industrial Property Rights

Patent

誘電泳動による微粒子の状態の測定方法

クラスターテクノロジー株式会社, 国立大学法人大阪大学

安達稔
久保井亮一
小寺富士
島内寿徳

Application no.: JP2007054498
Date applied: Mar 1, 2007
Announcement no.: WO2007-105578
Date announced: Sep 20, 2007

Link information

J-GLOBAL: https://jglobal.jst.go.jp/en/detail?JGLOBAL_ID=200903031638031777
URL: http://jglobal.jst.go.jp/public/200903031638031777

ID information

J-Global ID : 200903031638031777

To Industrial Property Rights list