MISC

査読有り

2003年7月

Electrical Modification on Conductive Polymer using a Scanning Probe Microscope

Proceedings of the 20th Sensor Symposium

Shinya Yoshida
Takahito Ono
Takashi Abe
Masayoshi Esashi

巻: 14
号
開始ページ: 411
終了ページ: 414
記述言語: 英語
掲載種別
DOI: 10.1088/0957-4484/14/9/321

リンク情報

DOI: https://doi.org/10.1088/0957-4484/14/9/321
CiNii Articles: http://ci.nii.ac.jp/naid/30017776843

ID情報

DOI : 10.1088/0957-4484/14/9/321
CiNii Articles ID : 30017776843

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