2016年5月15日
低エネルギーX線を用いた斜入射小角X線散乱法によるブロック共重合体薄膜のミクロ相分離構造の深さ依存性と配向挙動の解析
日本ゴム協会誌
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- 巻
- 89
- 号
- 5
- 開始ページ
- 121
- 終了ページ
- 128
- 記述言語
- 日本語
- 掲載種別
- 記事・総説・解説・論説等（学術雑誌）
山本 勝宏
ヤマモト カツヒロ (Katsuhiro Yamamoto)
更新日: 02/02