査読有り 2016年3月4日 がん検診のTOCによる問題構造分析 日本経営診断学会論集 横山 淳一, 史 文珍, 永井 昌寛, 山本 勝 巻 15 号 開始ページ 1 終了ページ 9 記述言語 日本語 掲載種別 研究論文(学術雑誌) 出版者・発行元 日本経営診断学会 リンク情報 J-GLOBALhttps://jglobal.jst.go.jp/detail?JGLOBAL_ID=201602217158675605 ID情報 ISSN : 1882-4544J-Global ID : 201602217158675605 エクスポート BibTeX RIS