矢野 裕司

J-GLOBALへ         更新日: 17/12/06 03:04
 
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研究者氏名
矢野 裕司
所属
筑波大学
部署
数理物質系
職名
准教授

論文

 
Okamoto, M.;Sometani, M.;Harada, S.;Yano, Hiroshi;Okumura, H.
Mater. Sci. Forum   897 549-552   2017年5月   [査読有り]
Zhang, X.;Okamoto, D.;Hatakeyama, T.;Sometani, M.;Harada, S.;Kosugi, R.;Iwamuro, N.;Yano, Hiroshi
Appl. Phys. Express   10(6) 064101   2017年6月   [査読有り]
We characterized the near-interface traps (NITs) in SiO2/4H-SiC structures according to the distributed circuit model, which was originally proposed for Al2O3/InGaAs interface structures. We assumed that the NITs had an exponentially decaying dist...
Experimental Demonstration of -730V Vertical SiC p-MOSFET with High Short Circuit Withstand Capability for Complementary Inverter Applications
An, J.;Namai, M.;Tanabe, M.;Okamoto, D.;Yano, Hiroshi;Iwamuro, N.
Technical Digest of International Electron Device Meeting 2016   IEDM16-272-IEDM16-275   2016年12月
Characterization of Traps at Nitrided SiO2/SiC Interfaces near the Conduction Band Edge by using Hall Effect Measurements
Hatakeyama, T.;Kiuchi, Y.;Sometani, M.;Okamoto, D.;Harada, S.;Yano, Hiroshi;Yonezawa, Y.;Okumura, H.
Abstracts of 47th IEEE Semiconductor interface Specialist Conference   11.17   2016年12月
A Distributed Model for Near-Interface Traps in 4H-SiC MOS Capacitors
Zhang, X. F.;Okamoto, D.;Hatakeyama, T.;M. Sometani;Harada, S.;Kosugi, R.;Iwamuro, N.;Yano, Hiroshi
Abstacts of 47th IEEE Semiconductor interface Specialist Conference   11.15   2016年12月

講演・口頭発表等

 
4H-SiC熱酸化膜のリーク伝導機構に対する窒化処理の影響
木内祐治;染谷満;岡本大;畠山哲夫;原田信介;矢野裕司;米澤喜幸;奥村元
第77回応用物理学会秋季学術講演会   2016年9月13日   
ホール効果測定による窒化SiO2/SiC界面の伝導帯近傍における界面準位の評価
畠山哲夫;木内祐治;染谷満;岡本大;原田信介;矢野裕司;米澤喜幸;奥村元
第77回応用物理学会秋季学術講演会   2016年9月13日   
窒化したp 型SiC MOS キャパシタにおける反転層の形成
唐本祐樹;岡本大;原田信介;染谷満;畠山哲夫;小杉亮治;岩室憲幸;矢野裕司
第77回応用物理学会秋季学術講演会   2016年9月13日   
窒化したSiC MOSFETに対するチャージポンピング特性の周波数依存性
王緒昆;岡本大;原田信介;岩室憲幸;矢野裕司
第77回応用物理学会秋季学術講演会   2016年9月13日   
A Distributed Model for Near-Interface Traps in 4H-SiC MOS Capacitors
Zhang, X. F.;Okamoto, D.;Hatakeyama, T.;Sometani, M.;Harada, S.;Kosugi, R.;Iwamuro, N.;Yano, Hiroshi
第77回応用物理学会秋季学術講演会   2016年9月13日