論文

2017年12月

The life cycle impact assessment that the variabilities of BGA solder connection makes

Electronics Packaging Technology Conference (EPTC), 2017 IEEE 19th
  • Yano Ryosuke
  • ,
  • Qiang Yu

記述言語
英語
掲載種別
研究論文(国際会議プロシーディングス)
DOI
10.1109/EPTC.2017.8277488

リンク情報
DOI
https://doi.org/10.1109/EPTC.2017.8277488
ID情報
  • DOI : 10.1109/EPTC.2017.8277488

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