2011年11月19日 物体表面の反射像を用いた外観検査の自動化 第54回自動制御連合講演会 冨田 卓司, 三宅 哲夫, 章 忠, 今村 孝, 岸田 良文, 兼松 賢, 森元 庸介 記述言語 日本語 会議種別 口頭発表（一般）
