講演・口頭発表等

2017年5月

Error injection analysis for triple modular and penta-modular redundancies

International Symposium on Next-Generation Electronics
  • R. Terada
  • ,
  • M. Watanabe

開催地
Keelung, Taiwan
リンク情報
DOI
https://doi.org/10.1109/ISNE.2017.7968746