論文

査読有り 責任著者
2022年10月

Total Dose Tolerance Analysis of an Optically Reconfigurable Gate Array VLSI

IEEE International Conference on Electronics Circuits and Systems
  • Kaho Yamada
    • ,
  • Takeshi Okazaki
    • ,
  • Minoru Watanabe
    • ,
  • Nobuya Watanabe
記述言語
掲載種別
研究論文（国際会議プロシーディングス）
DOI
10.1109/ICECS202256217.2022.9970905
リンク情報
DOI
https://doi.org/10.1109/ICECS202256217.2022.9970905
ID情報
  • DOI : 10.1109/ICECS202256217.2022.9970905
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