論文

査読有り

2018年5月

A 603 Mrad total-ionizing-dose tolerance optically reconfigurable gate array VLSI

International Conference on Signals and Systems

T. Fujimori
M. Watanabe

開始ページ: 249
終了ページ: 254
記述言語: 英語
掲載種別: 研究論文（国際会議プロシーディングス）
DOI: 10.1109/ICSIGSYS.2018.8372766

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DOI: https://doi.org/10.1109/ICSIGSYS.2018.8372766
URL: https://ieeexplore.ieee.org/document/8372766

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DOI : 10.1109/ICSIGSYS.2018.8372766

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