特許権 中性粒子を用いた半導体装置の成膜方法 国立大学法人東北大学、株式会社半導体理工学研究センター 寒川誠二, 安原重雄, 門村新吾, 矢野尚, 田島邦敏, 松永範昭, 吉丸正樹 出願番号 特願2008-141566 出願日 2008年5月29日 公開番号 特開2009-290026 公開日 2009年12月10日 特許番号/登録番号 特許4743229 登録日 発行日 2011年5月20日