2020年
Optimal Inter-Gate Separation and Overlapped Source of Multi-Channel Line Tunnel FETs
IEEE Open Journal of Nanotechnology
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- 巻
- 1
- 号
- 開始ページ
- 38
- 終了ページ
- 46
- 記述言語
- 掲載種別
- 研究論文（学術雑誌）
- DOI
- 10.1109/ojnano.2020.2998939
- 出版者・発行元
- Institute of Electrical and Electronics Engineers (IEEE)
- リンク情報
- ID情報
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- DOI : 10.1109/ojnano.2020.2998939
- eISSN : 2644-1292