特許権
1次元または2次元検出器を用いた粉末X線回折データ測定方法
財団法人高輝度光科学研究センター, 理学電機株式会社, 日本原子力研究所, 理化学研究所
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- 出願番号
- 特願2001-347637
- 出願日
- 2001年11月13日
- 公開番号
- 特開2003-149180
- 公開日
- 2003年5月21日
- リンク情報
- ID情報
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- J-Global ID : 200903092848101351