基本情報

所属
名古屋大学 未来材料・システム研究所 附属高度計測技術実践センター X線分光計測部 教授
学位
博士(理学)(広島大学)

研究者番号
20284226
J-GLOBAL ID
200901056664432025
researchmap会員ID
1000321206

外部リンク

研究キーワード

  3

論文

  56

MISC

  52

書籍等出版物

  3

講演・口頭発表等

  14

共同研究・競争的資金等の研究課題

  3

産業財産権

  2