2018年1月27日 顕微ラマン分光法による機能化 iC 上グラフェンの応力とキャリア密度の定量評価 平成 29 年度第1回半導体エレクトロニクス部門委員会・講演会 河村 祐輔, 森本 征士, 北岡 誠, 田原 雅章, 大野 恭秀, 永瀬 雅夫 記述言語 日本語 会議種別 主催者 日本材料学会 開催地 徳島大学常三島キャンパス・工業会館,徳島市