1991年
Development of a system to analyse the structure of a submicrometer-sized single crystal by synchrotron X-ray diffraction. (共著)
J. Appl. Cryst.
- 巻
- 24
- 号
- 4
- 開始ページ
- 340
- 終了ページ
- 348
- DOI
- 10.1107/S0021889891002133
- リンク情報
- ID情報
-
- DOI : 10.1107/S0021889891002133
- ISSN : 0021-8898
- CiNii Articles ID : 80006048011