MISC

1991年

Development of a system to analyse the structure of a submicrometer-sized single crystal by synchrotron X-ray diffraction. (共著)

J. Appl. Cryst.

巻: 24
号: 4
開始ページ: 340
終了ページ: 348
DOI: 10.1107/S0021889891002133

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DOI: https://doi.org/10.1107/S0021889891002133
CiNii Articles: http://ci.nii.ac.jp/naid/80006048011

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DOI : 10.1107/S0021889891002133
ISSN : 0021-8898
CiNii Articles ID : 80006048011

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