MISC

1992年

Characterization of 5μm-sized icosahedral CVD diamond by synchrotron X-ray diffraction with Laue method. (共著)

Rev. Sci. Instrum.

巻: 63
号: 1 Pt 2B
開始ページ: 1181
終了ページ: 1184
DOI: 10.1063/1.1143128

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DOI: https://doi.org/10.1063/1.1143128
CiNii Articles: http://ci.nii.ac.jp/naid/80006306539

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DOI : 10.1063/1.1143128
ISSN : 0034-6748
CiNii Articles ID : 80006306539

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