講演・口頭発表等

2015年6月18日

Characterizations of radiation damages in multi-junction solar cells focused on subcell internal luminescence quantum yields via absolute electroluminescence measurements

42nd IEEE Photovoltaic Specialists Conference
  • L. Zhu
  • ,
  • M. Yoshita
  • ,
  • S. Chen
  • ,
  • T. Nakamura
  • ,
  • T. Mochizuki
  • ,
  • C. Kim
  • ,
  • M. Imaizumi
  • ,
  • Y. Kanemitsu
  • ,
  • H. Akiyama

記述言語
英語
会議種別
開催地
New Orleans, LA, USA