児玉 哲司
コダマ テツジ (Tetsuji Kodama)
更新日: 02/01
基本情報
研究キーワード
1論文
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Microscopy 71(3) 142-151 2022年6月6日
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Applied Physics Express 14 022006 2021年1月 査読有り
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Microscopy 68(6) 457-466 2019年11月 査読有り筆頭著者
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Microscopy and Microanalysis 25(S2) 102-103 2019年8月
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Microscopy and Microanalysis 25(S2) 944-945 2019年8月
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Microscopy 68(3) 254-260 2019年3月 査読有り
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Microscopy 68(3) 254-260 2019年1月 査読有り招待有り筆頭著者
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Surf. Interface Anal. 48 1160-1165 2016年8月 査読有り
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VACUUM 110 228-231 2014年12月
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Microscopy 64(2) 69-76 2014年11月 査読有り
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Microscopy 62 S119-S129 2013年4月 査読有り招待有り筆頭著者
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Meas. Sci. Technol. 24 015101-1-015101-8 2012年12月 査読有り筆頭著者
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Phys. Rev. A 83 063616-1-063616-9 2011年6月 査読有り筆頭著者
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電気学会論文誌C 129(3) 418-423 2009年3月 査読有り筆頭著者
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電気学会論文誌C 127(3) 317-323 2007年3月 査読有り筆頭著者
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J. Electron Microsc. 54(5) 429-435 2005年10月 査読有り筆頭著者
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IEEE Trans. Instrum. Meas. 54(1) 305-310 2005年2月 査読有り
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Meas. Sci. Technol. 15(2) 347-352 2003年12月 査読有り
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Scanning 24(1) 39-45 2002年1月 査読有り
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IEEE Trans. Instrum. Meas. 50(6) 1748-1752 2001年12月 査読有り
MISC
14-
Microscopy and Microanalysis 26 1-3 2020年7月30日 査読有り
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International Journal of Advanced Microscopy and Theoretical Calculations 6 62-63 2019年6月 査読有り筆頭著者
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9th International Symposium on Atomic Level Characterizations for New Materials and Devices ’13 Proceedings 221-222 2013年 査読有り
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8th International Symposium on Atomic Level Characterizations for New Materials and Devices ’11 Proceedings 223-224 2011年 査読有り
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8th International Symposium on Atomic Level Characterizations for New Materials and Devices ’11 Proceedings 221-222 2011年 査読有り
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16th International Microscopy Congress Proceedings 2 955 2006年 査読有り筆頭著者
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2004 IEEE International Conference on Networking, Sensing and Control Proceedings 1271-1275 2004年3月 査読有り
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2001 IEEE Intelligent Transportation Systems Conference Proceedings 643-646 2001年8月 査読有り
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2000 IEEE International Conference on Systems, Man and Cybernetics, SMC 2000 Conference Proceedings 2869-2872 2000年10月 査読有り
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Proceedings of the 3rd Asia-Pacific Conference on Simulated Evolution and Learning 2798-2802 2000年10月 査読有り
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Mat. Res. Soc. Symp. Proc. 487 553-558 1998年12月 査読有り筆頭著者
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Electron Microscopy 1998 1 157-158 1998年8月 査読有り
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Electron Microscopy 1998 1 61-62 1998年8月 査読有り筆頭著者
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Bull. Am. Phys. Soc. 42 543 1997年3月 査読有り
書籍等出版物
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株式会社工業調査会 1990年10月
講演・口頭発表等
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FIRST International Symposium on “Topological Quantum Technology” 2014年1月 招待有り
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Tonomura FIRST International Symposium on “Electron Microscopy and Gauge Fields” 2012年5月
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Electron Holography Workshop 2002年9月
共同研究・競争的資金等の研究課題
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日本学術振興会 科学研究費助成事業 基盤研究(B) 2018年4月 - 2021年3月
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日本学術振興会 科学研究費助成事業 基盤研究(C) 2008年 - 2010年
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日本学術振興会 科学研究費助成事業 基盤研究(A) 2000年 - 2003年
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日本学術振興会 科学研究費助成事業 奨励研究(A) 2000年 - 2001年
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日本学術振興会 科学研究費助成事業 特定領域研究(A) 1999年 - 2000年
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日本学術振興会 科学研究費助成事業 特定領域研究(A) 1999年 - 1999年
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日本学術振興会 科学研究費助成事業 特定領域研究(A) 1998年 - 1998年
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日本学術振興会 科学研究費助成事業 基盤研究(C) 1997年 - 1998年
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日本学術振興会 科学研究費助成事業 奨励研究(A) 1997年 - 1998年
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日本学術振興会 科学研究費助成事業 基盤研究(A) 1996年 - 1998年
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日本学術振興会 科学研究費助成事業 重点領域研究 1996年 - 1996年
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日本学術振興会 科学研究費助成事業 重点領域研究 1995年 - 1995年