材料工学の分野において、転位、結晶粒、析出物などの微構造解析をはじめ、原子分解能観察や元素分析など、透過型電子顕微鏡（TEM）が日常的に用いられている。しかし、TEMにより得られる情報の多くは薄膜試料から得られた電子の透過像や投影像であり、２次元的な情報しか得ることが出来ない。単純な構造を持つ材料であれば２次元像から３次元的な構造情報を推測することは可能ではあるが、多元系の合金や複合ナノ粒子など、複雑な系では到底困難である。材料の３次元的な微構造が特性を左右することから、材料を３次元で解析することが早くから望まれてきていた。今回、電子線トモグラフィ法を駆使し、金属－複合－セラミックス材料など様々な材料解析をおこなっており、これらの成果を論じた。