MISC

2007年

A new technique for quantitative analysis of sub-grain boundary density and its influence on minority carrier diffusion length in bulk multicrystalline silicon

22nd European Photovoltaic Solar Energy Conference
  • K. Kutsukake
  • ,
  • N. Usami
  • ,
  • T. Ohtaniuchi
  • ,
  • K. Fujiwara
  • ,
  • Y. Nose
  • ,
  • K. Nakajima

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終了ページ
1373

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