2013年
28pXG-11 細線状のトポロジカル絶縁体Bi_2Se_3薄膜での伝導度揺らぎ(28pXG トポロジカル絶縁体(実験),領域4(半導体,メゾスコピック系・局在))
日本物理学会講演概要集
- 巻
- 68
- 号
- 0
- 開始ページ
- 770
- 終了ページ
- 770
- 記述言語
- 日本語
- 掲載種別
- 出版者・発行元
- 一般社団法人 日本物理学会
- リンク情報
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- CiNii Articles
- http://ci.nii.ac.jp/naid/110009645193
- CiNii Books
- http://ci.nii.ac.jp/ncid/AA11439205
- ID情報
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- ISSN : 1342-8349
- CiNii Articles ID : 110009645193
- CiNii Books ID : AA11439205
- identifiers.cinii_nr_id : 9000006391386