論文

2015年

FIM/FEMを用いた先鋭化したシャープペンシル芯の構造評価

表面科学学術講演会要旨集
  • 明神, 拓真
  • ,
  • 安達, 学
  • ,
  • 麻薙, 健
  • ,
  • 山田, 洋一
  • ,
  • 佐々木, 正洋

35
0
開始ページ
293
終了ページ
記述言語
日本語
掲載種別
研究論文(学術雑誌)
出版者・発行元
公益社団法人 日本表面科学会

炭素ナノ構造体は低電界で良好な電子放出特性を有する。我々は垂直配向したグラファイトエッジを有するシャープペンシル芯断面を電子源として利用し、その電子放出特性が極めて良好であることを示した。しかし、先端形状が複雑であるために電子放出の起源となる電子放出サイトの同定は困難であった。そこで、先鋭化し形状を単純化したシャープペンシル試料にFIM/FEM計測を行うことでエミッタ形状と電子放出の関係を調べる。

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