論文

2019年8月

Atomically Controlled Surfaces, Interfaces and Nanostructures/Scanning Probe Microscopy FOREWORD

JAPANESE JOURNAL OF APPLIED PHYSICS
  • Takahashi, Takuji
  • ,
  • Fujita, Daisuke
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  • Fukidome, Hirokazu
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  • Fukui, Ken-ichi
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  • Hibino, Hiroki
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  • Kageshima, Masami
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  • Komeda, Tadahiro
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  • Nakajima, Ken
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  • Nakamura, Makoto
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  • Nakayama, Tomonobu
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  • Nohira, Hiroshi
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  • Sasakawa, Kaoru
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  • Sasaki, Naruo
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  • Sumitomo, Koji
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  • Uchihashi, Takayuki
  • ,
  • Watanabe, Takanobu
  • ,
  • Yamada, Yoichi

58
I
記述言語
英語
掲載種別
研究論文(学術雑誌)
DOI
10.7567/1347-4065/ab2864
出版者・発行元
IOP PUBLISHING LTD

リンク情報
DOI
https://doi.org/10.7567/1347-4065/ab2864

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