田沼繁夫 (Shigeo Tanuma) - マイポータル

基本情報

所属: 独立行政法人物質・材料研究機構材料データプラットフォームセンターチームリーダー

学位: 理学博士

連絡先: tanuma-shtbd.t-com.ne.jp
J-GLOBAL ID: 200901005065993686
researchmap会員ID: 5000003601

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研究分野

受賞

論文

Cylindrically symmetric rotating crystals observed in crystallization process of InSiO film

Bo Da, Long Cheng, Xun Liu, Kunji Shigeto, Kazuhito Tsukagoshi, Toshihide Nabatame, Zejun Ding, Yang Sun, Jin Hu, Jiangwei Liu …

Science and Technology of Advanced Materials: Methods 3(1) 2023年7月13日
Emitted secondary Electrons: In vacuo plasmon energy gain observation using a Three-Point probe method

B. Da, X. Liu, J. M. Gong, Z. H. Zhang, Z. J. Ding, N. T. Cuong, J. Hu, J. W. Liu, Z. S. Gao, H. X. Guo …

Applied Surface Science 596 2022年9月15日
Evaluation of dielectric function models for calculation of electron inelastic mean free path

B. Da, X. Liu, L. H. Yang, J. M. Gong, Z. J. Ding, H. Shinotsuka, J. W. Liu, H. Yoshikawa, S. Tanuma

Journal of Applied Physics 131(17) 2022年5月7日
Chemical identification of lithium compounds by reflection electron energy loss spectroscopy

Kimihiko Ito, Yoshitomo Harada, Hideki Yoshikawa, Shigeo Tanuma

JOURNAL OF ELECTRON SPECTROSCOPY AND RELATED PHENOMENA 257 2022年5月
Calculations of electron inelastic mean free paths. XIII. Data for 14 organic compounds and water over the 50 eV to 200 keV range with the relativistic full Penn algorithm

Hiroshi Shinotsuka, Shigeo Tanuma, Cedric J. Powell

Surface and Interface Analysis 54(5) 534-560 2022年5月
Secondary electron-, Auger electron- and reflected electron-spectroscopy study on sp²-hybridization carbon materials: HOPG, carbon glass and carbon fiber

Dabao Lu, Keisuke Goto, Bo Da, Jiangwei Liu, Hideki Yoshikawa, Shigeo Tanuma, Z. J. Ding

Journal of Electron Spectroscopy and Related Phenomena 250 2021年7月
Low-energy electron inelastic mean free path and elastic mean free path of graphene

L. H. Yang, B. Da, H. Yoshikawa, S. Tanuma, J. Hu, J. W. Liu, D. M. Tang, Z. J. Ding

Applied Physics Letters 118(5) 2021年2月1日
Low-energy electron inelastic mean free path for monolayer graphene

Hieu T. Nguyen-Truong, Bo Da, Lihao Yang, Zejun Ding, Hideki Yoshikawa, Shigeo Tanuma

Applied Physics Letters 2020年7月20日
Measurement of the Low-Energy Electron Inelastic Mean Free Path in Monolayer Graphene

Bo Da, Yang Sun, Zhufeng Hou, Jiangwei Liu, Nguyen Thanh Cuong, Kazuhito Tsukagoshi, Hideki Yoshikawa, Shigeo Tanuma, Jin Hu, Zhaoshun Gao …

Physical Review Applied 13(4) 2020年4月
Observation of Plasmon Energy Gain for Emitted Secondary Electron in Vacuo

Bo Da, Jiangwei Liu, Yoshitomo Harada, Nguyen T. Cuong, Kazuhito Tsukagoshi, Jin Hu, Lihao Yang, Zejun Ding, Hideki Yoshikawa, Shigeo Tanuma

Journal of Physical Chemistry Letters 10(19) 5770-5775 2019年10月3日
Comparison of the Mermin and Penn models for inelastic mean‐free path calculations for electrons based on a model using optical energy‐loss functions

Bo Da, Hiroshi Shinotsuka, Hideki Yoshikawa, Shigeo Tanuma

Surface and Interface Analysis 51(6) 627-640 2019年6月
Calculations of electron inelastic mean free paths. XII. Data for 42 inorganic compounds over the 50 eV to 200 keV range with the full Penn algorithm

Shigeo Tanuma

Surface and Interface Analysis 2019年4月
Virtual substrate method for nanomaterials characterization

Bo Da, Jiangwei Liu, Mahito Yamamoto, Yoshihiro Ueda, Kazuyuki Watanabe, Nguyen Thanh Cuong, Songlin Li, Kazuhito Tsukagoshi, Hideki Yoshikawa, Hideo Iwai …

NATURE COMMUNICATIONS 8 15629 2017年5月査読有り
Calculations of electron inelastic mean free paths. XI. Data for liquid water for energies from 50eV to 30keV

H. Shinotsuka, B. Da, S. Tanuma, H. Yoshikawa, C. J. Powell, D. R. Penn

SURFACE AND INTERFACE ANALYSIS 49(4) 238-252 2017年4月査読有り
電子線マイクロアナライザーによるMg-Ge合金の定量 -Mg Kα に対するGeの質量吸収係数の検討-

西尾満章, 吉川英樹, 田沼繁夫, 今井基晴, 磯田幸宏

Journal of Surface Analysis 23(3) 149-159 2017年
Reproducibility of XPS analysis for film thickness of SiO<inf>2</inf>/Si by active Shirley method

Matsumoto, R., Nishizawa, Y., Kataoka, N., Tanaka, H., Yoshikawa, H., Tanuma, S., Yoshihara, K.

Journal of Electron Spectroscopy and Related Phenomena 207 2016年
表面分析の実際の現場では

田沼繁夫

表面科学 37(4) 149-149 2016年
Inelastic Mean Free Paths, Mean Escape Depths, and Effective Attenuation Lengths for Surface Electron Spectroscopies (1)(2015 年度実用表面分析講演会 PSA-15 (Practical Surface Analysis 2015) 講演資料)

Tanuma, S, Goto, K, Yoshikawa, H, Powell, CJ, Penn, DR, Da, B, Ueda, R, Shinotsuka, H

Journal of surface analysis 22(3) A-94 2016年
Inelastic Mean Free Paths, Mean Escape Depths, and Effective Attenuation Lengths for Surface Electron Spectroscopies (2)(表面分析研究会第 46 回研究会講演資料)

Tanuma, S, Goto, K, Yoshikawa, H, Powell, CJ, Penn, DR, Da, B, Ueda, R, Shinotsuka, H

Journal of surface analysis 23(1) A-12 2016年
A predictive formula for the electron stopping power

Jablonski, Aleks, er, Tanuma, S, Powell, Cedric J

Surface and Interface Analysis 2016年

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MISC

137

Calculations of electron inelastic mean free paths. X. Data for 41 elemental solids over the 50 eV to 200 keV range with the relativistic full Penn algorithm (Vol 47, pg 207, 2015)

H. Shinotsuka, S. Tanuma, C. J. Powell, D. R. Penn

SURFACE AND INTERFACE ANALYSIS 47(12) 1132-1132 2015年12月
F.Cupと試料電流による2次電子利得の推測と2次電子の特性 : エネルギー分布・オージェ遷移・損失 (表面分析研究会第39回研究会講演資料)

後藤敬典, 井上雅彦, 田沼繁夫

Journal of surface analysis 19(2) A-52-57 2012年12月
表面分析が産業界に果たした役割

田沼繁夫, 福島整

表面科学 : hyomen kagaku = Journal of the Surface Science Society of Japan 32(5) 238-245 2011年5月10日
Advances in Surface Chemical Analysis : From Fundamentals to Standardization

TANUMA Shigeo

Analytical sciences : the international journal of the Japan Society for Analytical Chemistry 26(2) 145-145 2010年2月10日
Surface excitations in surface electron spectroscopies studied by reflection electron energy-loss spectroscopy and elastic peak electron spectroscopy

Takaharu Nagatomi, Shigeo Tanuma

Analytical Sciences 26(2) 165-176 2010年
An improved backscattering correction equation for wide analytical conditions on quantitative Auger analysis (Extended abstracts book of the International Workshop for Surface Analysis and Standardization '09 (iSAS-09))

Tanuma Shigeo

Journal of surface analysis 15(3) 312-316 2009年3月
Auger depth profiling analysis using an inclined holder (Extended abstracts book of the International Workshop for Surface Analysis and Standardization '09 (iSAS-09))

Ogiwara Toshiya, Tanuma Shigeo

Journal of surface analysis 15(3) 246-248 2009年3月
Calculation of depth distribution functions for CuO and SiO2 (Extended abstracts book of the International Workshop for Surface Analysis and Standardization '09 (iSAS-09))

Shinotsuka H., Yoshikawa Hideki, Tanuma Shigeo

Journal of surface analysis 15(3) 317-320 2009年3月
New model ultra-soft X-ray spectrometer for microanalysis

Sei Fukushima, Takashi Kimura, Toshiya Ogiwara, Kazunori Tsukamoto, Toyohiko Tazawa, Shigeo Tanuma

MICROCHIMICA ACTA 161(3-4) 399-404 2008年6月
Analysis of ultra light elements with newly developed ultra-soft X-ray spectrometer for electron probe microanalysis

Toshiya Ogiwara, Takashi Kimura, Sei Fukushima, Kazunori Tsukamoto, Toyohiko Tazawa, Shigeo Tanuma

MICROCHIMICA ACTA 161(3-4) 451-454 2008年6月
Calculations of stopping powers of 100 eV-30 keV electrons in 31 elemental solids

S. Tanuma, C. J. Powell, D. R. Penn

JOURNAL OF APPLIED PHYSICS 103(6) 063707 2008年3月
Modified predictive formula for the electron stopping power

A. Jablonski, S. Tanuma, C. J. Powell

JOURNAL OF APPLIED PHYSICS 103(6) 063708 2008年3月
電子分光法による表面分析の動向

田沼繁夫, 岩井秀夫, 吉川英樹

ぶんせき (396) 643-649 2007年12月5日
オージェ電子分光法における背面散乱補正(1)広い分析条件で使用可能な電子の背面散乱補正式の開発

田沼繁夫

Journal of surface analysis 14(1) 9-19 2007年7月
オージェ電子分光法における背面散乱補正 I．広い分析条件で使用可能な電子の背面散乱補正式の開発

田沼繁夫

J. Surf. Anal. 13 9 2007年
Spatial resolution of a wavelength-dispersive electron probe microanalyzer equipped with a thermal field emission gun

Takashi Kimura, Kenji Nishida, Shigeo Tanuma

MICROCHIMICA ACTA 155(1-2) 175-178 2006年9月
Calculations of electron stopping powers for elemental solids and compounds

S Tanuma, CJ Powell, DR Penn

SCANNING 28(2) 112-113 2006年3月
A predictive formula for the electron stopping power

A Jablonski, S Tanuma, CJ Powell

SCANNING 28(2) 113-114 2006年3月
New universal expression for the electron stopping power for energies between 200 eV and 30 keV

A Jablonski, S Tanuma, CJ Powell

SURFACE AND INTERFACE ANALYSIS 38(2) 76-83 2006年2月
電子線励起超軟X線分光装置の開発

木村隆, 福島整, 田沼繁夫, 田澤豊彦, 塚本一徳

表面科学 27(9) 540-545 2006年

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書籍等出版物

Surface Analysis by Auger and X-ray Photoelectron Spectroscopy (分担執筆：Electron Attenuation Lengths)

Surface Spectra & IM publications 2003年

田沼繁夫

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研究分野

受賞

論文

MISC

書籍等出版物

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