月本功 (Isao Tsukimoto) - マイポータル

基本情報

所属: 香川高等専門学校電子システム工学科准教授

学位: 博士（工学）(徳島大学)

J-GLOBAL ID: 200901029125177952
researchmap会員ID: 5000014442

研究キーワード

研究分野

ものづくり技術（機械・電気電子・化学工学） / 電子デバイス、電子機器 /

経歴

2009年10月 - 現在

香川高等専門学校, 電子システム工学科
2002年4月 - 2009年9月

詫間電波高等専門学校, 電子工学科

学歴

論文

ものづくりイノベーションにおけるプロセス評価と検査バウンダリスキャンテスト機構を用いたはんだ接合部の電気検査法とその組込型検査回路

橋爪正樹, 伊喜利勇貴, 小西朝陽, 四柳浩之, LU Shyue‐Kung

エレクトロニクス実装学会誌 19(3) 161-165 2016年
A built-in test circuit for open defects at interconnects between dies in 3D ICs

Widianto, Hiroyuki Yotsuyanagi, Akira Ono, Masao Takagi, Masaki Hashizume

2011 IEEE International 3D Systems Integration Conference, 3DIC 2011 2011年
CMOSゲート回路を断線センサとして用いた部品接合不良検出法

小野安季良, 一宮正博, 四柳浩之, 高木正夫, 橋爪正樹

エレクトロニクス実装学会誌 12(2) 137-143 2009年
交流電界印加時の電流テストによるCMOS LSIのリード浮き検出のための印加交流電圧

高木正夫, 橋爪正樹, 一宮正博, 四柳浩之

エレクトロニクス実装学会誌 10(3) 219-228 2007年
ばらつきを有するICで構成したTTL回路の電源電流による統計的断線故障検出法

エレクトロニクス実装学会誌、Vol.8 No.3 8(3) 199-207 2005年査読有り
Test equipment for CMOS lead open detection based on supply current under AC electric field application

Masahiro Ichimiya, Masaki Hashizume, Hiroyuki Yotsuyanagi, Takeomi Tamesada

IPC - Electronic Circuits World Convention, Printed Circuits Expo, Apex, and the Designers Summit 2005, ECWC 10: The Perfect Fit 4 2046-2050 2005年
Electric field for detecting open leads in CMOS logic circuits by supply current testing

Masaki Hashizume, Masahiro Ichimiya, Hiroyuki Yotsuyanagi, Takeomi Tamesada

Proceedings - IEEE International Symposium on Circuits and Systems 2995-2998 2005年査読有り
A test circuit for pin shorts generating oscillation in CMOS logic circuits

Masahiro Ichimiya, Masaki Hashizume, Hiroyuki Yotsuyanagi, Takeomi Tamesada

Systems and Computers in Japan 35(13) 10-20 2004年11月30日査読有り
IDDQ test method based on wavelet transformation for noisy current measurement environment

Masaki Hashizume, Daisuke Yoneda, Hiroyuki Yotsuyanagi, Tetsuo Tada, Takeshi Koyama, Ikuro Morita, Takeomi Tamesada

Proceedings of the Asian Test Symposium 112-117 2004年
Genetic state reduction method of incompletely specified machines

Masaki Hashizume, Teruyoshi Matsushima, Takashi Shimamoto, Hiroyuki Yotsuyanagi, Takeomi Tamesada, Akio Sakamoto

IEICE Transactions on Fundamentals of Electronics, Communications and Computer Sciences E87-A(6) 1555-1563 2004年
Lead open detection based on supply current of CMOS LSIs

Masao Takagi, Masaki Hashizume, Masahiro Ichimiya, Hiroyuki Yotsuyanagi, Takeomi Tamesada

IEICE Transactions on Fundamentals of Electronics, Communications and Computer Sciences E87-A(6) 1330-1337 2004年
Identification and Frequency Estimation of Feedback Bridging Faults Generating Logical Oscillation in CMOS Circuits

Masaki Hashizume, Hiroyuki Yotsuyanagi, Takeomi Tamesada

IEICE Transactions on Information and Systems E87-D(3) 571-579 2004年
Test Sequence Generation for Test Time Reduction of IDDQ Testing

Hiroyuki Yotsuyanagi, Masaki Hashizume, Takeomi Tamesada

IEICE Transactions on Information and Systems E87-D(3) 537-543 2004年
CMOS論理ICの交流電界印加時の電源電流測定によるピン浮き検出法

一宮正博, 橋爪正樹, 四柳浩之, 為貞建臣

エレクトロニクス実装学会誌 6(2) 140-146 2004年
Test Pattern Generation for CMOS Open Defect Detection by Supply Current Testing under AC Electric Field

Hiroyuki Yotsuyanagi, Taisuke Iwakiri, Masaki Hashizume, Takeomi Tamesada

IEICE Transactions on Information and Systems E86-D(12) 2666-2673 2003年
CMOSマイクロコンピュータ回路の電源電流によるブリッジ故障検出法

橋爪正樹, 田坂英司, 四柳浩之, 為貞建臣, 茅原敏広, 森田郁朗, 大家隆弘

エレクトロニクス実装学会誌 6(7) 564-572 2003年
Sequential redundancy removal using test generation and multiple strongly unreachable states

Hiroyuki Yotsuyanagi, Masaki Hashizume, Takeomi Tamesada

IEICE Transactions on Information and Systems E85-D(10) 1605-1608 2002年
IDDQ test time reduction by high speed charging of load capacitors of CMOS logic gates

Masaki Hashizume, Teppei Takeda, Masahiro Ichimiya, Hiroyuki Yotsuyanagi, Yukiya Miura, Kozo Kinoshita

IEICE Transactions on Information and Systems E85-D(10) 1534-1541 2002年
CMOS open defect detection by supply current measurement under time-variable electric field supply

Masaki Hashizume, Masahiro Ichimiya, Hiroyuki Yotsuyanagi, Takeomi Tamesada

IEICE Transactions on Information and Systems E85-D(10) 1542-1550 2002年
CMOS open defect detection based on supply current in time-variable electric field and supply voltage application

Masaki Hashizume, Masahiro Ichimiya, Hiroyuki Yotsuyanagi, Takeomi Tamesada

Proceedings of the Asian Test Symposium 117-122 2001年

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Fault judgement based on variance in the test method by measuring quiescent supply current for detecting open faults

境直人, 月本功

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電流テスト法における電磁誘導による断線故障検出の基礎的検討

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LSI実装時半断線故障に対する電流テストによる検出可能性の評価

月本功, 安藤健太, 須崎晴登

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Effectiveness of supply current test method for resistive open fault by miniaturization of manufacturing process

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電流テストにおける交流電界印加用電圧波形形状によるIDDQ出現時間への影響

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IDDQ Flowing Time by Voltage Waveform for Applying AC Electric Filed on Supply Current Test

田中聖也, 月本功

Proceedings of International Seminar on Nanoscience and Nanotechnology 2016 35-36 2016年2月査読有り
電流テストにおける交流電界印加用電圧波形形状によるIDDQ出現時間の比較

田中聖也, 月本功, 四柳浩之, 橋爪正樹

平成27年度電気関係学会四国支部連合大会講演論文集 104-104 2015年9月
電流テストによる LSI 実装時断線故障検出における基板内層からの交流電界印加

月本功, 田中聖也

香川高等専門学校研究紀要 6 103-108 2015年6月
BGA LSIの実装時断線故障検出に対する交流電界印加による電流テスト

月本功, 安藤諒, 高木正夫, 四柳浩之, 橋爪正樹

香川高等専門学校研究紀要 5 135-140 2014年6月
有機デバイスを題材にした専攻科特別実験ー電子デバイスを題材にした実践的問題解決能力を養う実験ー

森宗太一郎, 月本功

論文集「高専教育」 : kosen kyoiku (37) 267-272 2014年3月査読有り
交流電界印加時の電流テストによるBGA LSIのはんだボール断線故障検出

安藤諒, 月本功, 高木正夫, 四柳浩之, 橋爪正樹

平成25年度電気関係学会四国支部連合大会講演論文集 100-100 2013年9月
創造性を育む実験教育

月本功, 村上浩, 森宗太一郎, 高木正夫

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学生自身の課題設定によるエンジニアリングデザイン教育の実施

月本功, 曽根浩平, 富田泰基, 高木正夫

香川高等専門学校研究紀要第3号 125-130 2012年6月
A Built-in Electrical Test Circuit for Interconnect Tests in Assembled PCBs

Widianto, Hiroyuki Yotsuyanagi, Akira Ono, Masao Takagi, Zvi Roth, Masaki Hashizume

2012 2ND IEEE CPMT SYMPOSIUM JAPAN 2012年
電流テストによるCMOS LSIのリード浮き検出に対する低消費電流化の影響

西川大樹, 富田泰基, 月本功, 高木正夫, 四柳浩之, 橋爪正樹

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検査用内部電極からの交流電界印加時の電源電流テストによるCMOS LSIの開放故障検出

高嶋理恵, 高木正夫, 月本功, 小野安季良, 橋爪正樹

平成23年度電気関係学会四国支部連合大会講演論文集 129-129 2011年9月
ディープサブミクロンプロセスFPGAのリード浮き発生時静的電源電流特性

富田泰基, 月本功, 高木正夫, 四柳浩之, 橋爪正樹

平成22年度電気関係学会四国支部連合大会講演論文集 81-81 2010年9月
交流電界印加時の電源電流テストによるCMOS LSIの二重リード浮き検出

高嶋理恵, 高木正夫, 月本功, 小野安季良, 橋爪正樹

平成22年度電気関係学会四国支部連合大会講演論文集 79-79 2010年9月

月本功

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