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2002年

X-ray imaging spectrometer (XIS) on board Astro-E2

Proceedings of SPIE - The International Society for Optical Engineering

T. Dotani
M. Ozaki
H. Murakami
K. Koyama
T. Tsuru
H. Matsumoto
H. Tsunemi
K. Hayashida
E. Miyata
S. Kitamoto
H. Awaki
M. Bautz
J. Doty
G. Ricker
R. Foster
G. Prigozhin
S. Kissel
B. Burke
A. Pillsbury

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巻: 4851
号: 2
開始ページ: 1071
終了ページ: 1079
記述言語: 英語
掲載種別
DOI: 10.1117/12.461313

リンク情報

DOI: https://doi.org/10.1117/12.461313
Scopus: https://www.scopus.com/inward/record.uri?partnerID=HzOxMe3b&scp=0038294656&origin=inward
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ID情報

DOI : 10.1117/12.461313
ISSN : 0277-786X
SCOPUS ID : 0038294656

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