INOUE Koji

J-GLOBAL         Last updated: Apr 16, 2018 at 17:11
 
Avatar
Name
INOUE Koji
E-mail
kinoueimr.tohoku.ac.jp
URL
http://db.tohoku.ac.jp/whois/e_detail/c40780b73073ae4c2a6f46446a4e50b1.html
Affiliation
Tohoku University
Section
Institute for Materials Research Irradiation Effects in Nuclear and Their Related Materials
Job title
Associate Professor

Research Areas

 
 

Committee Memberships

 
Apr 2013
 - 
Today
陽電子科学会  会報編集委員
 
Apr 2011
 - 
Mar 2013
日本金属学会「まてりあ」編集委員会  委員
 
Oct 2009
 - 
Sep 2010
日本物理学会領域10格子欠陥ナノ構造分科運営委員会  委員
 

Awards & Honors

 
Nov 2012
Summit of Materials Science 2012  Short Presentation Award, Summit of Materials Science 2012
 
Sep 2011
第1回日本陽電子科学会奨励賞, 日本陽電子科学会
 
Mar 2011
“Dopant distributions in n-MOSFET structure observed by atom probe tomography” Ultramicroscopy vol. 109, pp. 1479-1484 (2009), 第2回応用物理学会シリコンテクノロジー分科会論文賞, 応用物理学会
Winner: K. Inoue, F.Yano, A.Nishida, H.Takamizawa, T.Tsunomura, Y.Nagai, M.Hasegawa
 
Mar 2010
陽電子ドット閉じ込めを利用したFe中Cuナノ析出物の寸法評価法の開発, 日本鉄鋼協会俵論文賞, 日本鉄鋼協会
Winner: 外山健、永井康介、唐政、井上耕治、千葉利信、長谷川雅幸、大久保忠勝、宝野和博
 
Mar 2010
アトムプローブを用いたSi-MOSFET の三次元不純物分布, 平成21 年度MIRAI 賞優秀賞, 半導体MIRAIプロジェクト
Winner: 高見澤悠、永井康介、井上耕治、矢野史子、角村貴昭、西田彰男
 

Published Papers

 
A. D. Giddings, S. Koelling, Y. Shimizu, R. Estivill, K. Inoue, W. Vandervorst, and W. K. Yeoh
Scripta Materialia   148 82-90   Apr 2018   [Refereed]
B. Han, J. Wei, Y. Tong, D. Chen, Y. Zhao, J. Wang, F. He, T. Yang, C. Zhao, Y. Shimizu, K. Inoue, Y. Nagai, A. Hu, C.-T. Liu, and J.-J. Kai
Scripta Materialia   148 42-46   Apr 2018   [Refereed]
Tu Y., Han B., Shimizu Y., Kunimune Y., Shimada Y., Katayama T., Ide T., Inoue M., Yano F., Inoue K., Nagai Y.
Applied Physics Letters   112(3) 032902   Jan 2018   [Refereed]
T. Toyama, K. Ami, K. Inoue, Y. Nagai, K. Sato, Q. Xu, Y. Hatano
Journal of Nuclear Materials   499 464-470   Feb 2018   [Refereed]
Celebrano Michele, Ghirardini Lavinia, Finazzi Marco, Shimizu Yasuo, Tu Yuan, Inoue Koji, Nagai Yasuyoshi, Shinada Takahiro, Chiba Yuki, Abdelghafar Ayman, Yano Maasa, Tanii Takashi, Prati Enrico
OPTICS LETTERS   42(17) 3311-3314   Sep 2017   [Refereed]
2017 SILICON NANOELECTRONICS WORKSHOP (SNW)   99-100   2017   [Refereed]
Revisiting room-temperature 1.54 mu m photoluminescence of ErOx centers in silicon at extremely low concentration
2017 SILICON NANOELECTRONICS WORKSHOP (SNW)   105-106   2017   [Refereed]
Y. Ohno, K. Inoue, K. Fujiwara, K. Kutsukake, M. Deura, I. Yonenaga, N. Ebisawa, Y. Shimizu, K. Inoue, Y. Nagai, H. Yoshida, S. Takeda, S. Tanaka, and M. Kohyama
Journal of Microscopy   268(3) 230-238   Dec 2017   [Refereed]
Y. Tu, B. Han, Y. Shimizu, K. Inoue, Y. Fukui, M. Yano, T. Tanii, T. Shinada, and Y. Nagai
Nanotechnology   28(38) 385301   Sep 2017   [Refereed]
Y. Ono, Y. Funakawa, K. Okuda, K. Seto, N. Ebisawa, K. Inoue, and Y. Nagai
ISIJ International   57(7) 1273-1281   2017   [Refereed]
Y. Tu, H. Takamizawa, B. Han, Y. Shimizu, K. Inoue, T. Toyama, F. Yano, A. Nishida, and Y. Nagai
Ultramicroscopy   173 58-63   Feb 2017   [Refereed]
K. Yoshida, M. Shimodaira, T. Toyama, Y. Shimizu, K. Inoue, T. Yoshiie, K. J. Milan, R. Gerard, and Y. Nagai
[Microscopy   66(2) 120-130   Apr 2017   [Refereed]
Y. Ohno, K. Inoue, K. Fujiwara, K. Kutsukake, M. Deura, I. Yonenaga, N. Ebisawa, Y. Shimizu, K. Inoue, Y. Nagai, H. Yoshida, S. Takeda, S. Tanaka, and M. Kohyama
Applied Physics Letters   110(6) 062105/1-062105/5   Feb 2017   [Refereed]
Yonemura Mitsuharu, Inoue Koji
METALLURGICAL AND MATERIALS TRANSACTIONS A-PHYSICAL METALLURGY AND MATERIALS SCIENCE   47A(12) 6384-6393   Dec 2016   [Refereed]
Han Bin, Shimizu Yasuo, Seguini Gabriele, Arduca Elisa, Castro Celia, Ben Assayag Gerard, Inoue Koji, Nagai Yasuyoshi, Schamm-Chardon Sylvie, Perego Michele
RSC ADVANCES   6(5) 3617-3622   2016   [Refereed]
H. Takamizawa, Y. Shimizu, K. Inoue, Y. Nozawa, T. Toyama, F. Yano, M. Inoue, A. Nishida, and Y. Nagai
Applied Physics Express   9(10) 106601/1-106601/4   Oct 2016   [Refereed]
Han Bin, Shimizu Yasuo, Wipakorn Jevasuwan, Nishibe Kotaro, Tu Yuan, Inoue Koji, Fukata Naoki, Nagai Yasuyoshi
NANOSCALE   8(47) 19811-19815   2016   [Refereed]
Y. Ohno, K. Kutsukake, M. Deura, I. Yonenaga, Y. Shimizu, N. Ebisawa, K. Inoue, Y. Nagai, H. Yoshida, and S. Takeda
Applied Physics Letters   109(14) 142105/1-142105/4   Oct 2016   [Refereed]
Characterization and process development of CVD/ALD-based Cu(Mn)/Co(W) interconnect system
K. Shima, Y. Tu, B. Han, H. Takamizawa, H. Shimizu, Y. Shimizu, T. Momose, K. Inoue, Y. Nagai, and Y. Shimogaki
Proceedings of Advanced Metallization Conference      2016   [Refereed]
Y. Kunimune, Y. Shimada, Y. Sakurai, M. Inoue, A. Nishida, B. Han, Y. Tu, H. Takamizawa, Y. Shimizu, K. Inoue, F. Yano, Y. Nagai, T. Katayama, and T. Ide
AIP Advances   6(4) 045121/1-045121/7   Apr 2016   [Refereed]
The diffusivity and solubility of copper in a reactor pressure vessel steel studied by atom probe tomography
Y. Nagai, K. Inoue, Y. Shimizu, and K. Nagumo
IMR KINKEN Research Highlights 2016   20   2016
Y Kobayashi, A Kinomura, S Kazama, K Inoue, T Toyama, Y Nagai, K Haraya, H F M Mohamed, B E O'Rourke, N Oshima and R Suzuki
Journal of Physics: Conference Series   674 012017   2016   [Refereed]
陽電子消滅同時計数ドップラー広がりによる元素分析法
井上耕治, 永井康介
陽電子科学   6 21-28   2016   [Refereed]
B. Han, Y. Shimizu, G. Seguini, E. Arduca, C. Castro, G. Ben Assayag, K. Inoue, Y. Nagai, S. Schamm-Chardon and M. Perego
RSC Advances   6(5) 3617-3622   2016   [Refereed]
M. Yamada, K. Sawano, M. Uematsu, Y. Shimizu, K. Inoue, Y. Nagai, and K. M. Itoh
Japanese Journal of Applied Physics   55 031304/1-031304/5   2016   [Refereed]
Y. Shimizu, H. Takamizawa, K. Inoue, F. Yano, S. Kudo, A. Nishida, T. Toyama, and Y. Nagai
Japanese Journal of Applied Physics   55(2) 026501/1-026501/5   Feb 2016   [Refereed]
D. J. Larson, T. J. Prosa, D. E. Perea, K. Inoue, D. Mangelinck
Materials Research Bulletin   41(1) 30-34   Jan 2016   [Refereed]
3次元アトムプローブ法を用いたONO膜中の水素濃度定量分析
国宗依信, 島田康弘, 井上真雄, 韓斌, 涂远, 清水康雄, 井上耕治, 矢野史子, 永井康介, 片山俊治, 井手隆
第35回ナノテスティングシンポジウム会議録   259-264   2015
M. Kubota, H. Takamizawa, Y. Shimizu, Y. Nozawa, N. Ebisawa, T. Toyama, Y. Ishida, K. Yanagiuchi, K. Inoue, and Y. Nagai
Microscopy and Microanalysis   21(6) 1373-1378   Dec 2015   [Refereed]
B. Han, H. Takamizawa, Y. Shimizu, K. Inoue, Y. Nagai, F. Yano, Y. Kunimune, M. Inoue, and A. Nishida
Appl. Phys. Lett.   107(2) 023506/1-023506/4   Jul 2015   [Refereed]
M. Shimodaira, F. Takahama, T. Toyama, N. Ebisawa, Y. Nozawa, Y. Shimizu, K. Inoue, and Y. Nagai
Materials Transactions   56(9) 1513-1516   Sep 2015   [Refereed]
Atom probe analysis of dopant and contaminant diffusion on silicon introduced by the molecular doping method
Y. Shimizu, K. Nagumo, K. Inoue, and Y. Nagai
IMR KINKEN Research Highlights 2015   35   2015
3次元アトムプローブ法を用いたSiO2/SiN/SiO2積層膜中の水素濃度分析
島田康弘, 国宗依信, 片山俊治, 井手隆, 井上真雄, 清水康雄, 韓斌, 井上耕治, 永井康介, 矢野史子
第45回信頼性・保全性シンポジウム(45R&MS)報文   377-381   2015
Y. Ohno, K. Inoue, K. Fujiwara, M. Deura, K. Kutsukake, I. Yonenaga, Y. Shimizu, K. Inoue, N. Ebisawa, and Y. Nagai
Appl. Phys. Lett.   106(25) 251603/1-251603/4   Jun 2015   [Refereed]
J. Jiang, Y.C. Wua, X.B. Liu, R.S. Wang, Y. Nagai, K. Inoue, Y. Shimizu, T. Toyama
Journal of Nuclear Materials   458 326-334   Mar 2015   [Refereed]
Y. Ohno, K. Inoue, K. Kutsukake, M. Deura, T. Ohsawa, I. Yonenaga, H. Yoshida, S. Takeda, R. Taniguchi, H. Otubo, S. R. Nishitani, N. Ebisawa, Y. Shimizu, H. Takamizawa, K. Inoue, and Y. Nagai
Phys. Rev. B   91(23) 235315/1-235315/5   Jun 2015   [Refereed]
K. Sato, Q. Xu, T. Yoshiie, T. Sano, H. Kawabe, Y. Nagai, K. Nagumo, K. Inoue, T. Toyama, N. Oshima, A. Kinomura and Y. Shirai
Nuclear Inst. and Methods in Physics Research B   342 104-107   Jan 2015   [Refereed]
Toyama T., Takahama F., Kuramoto A., Takamizawa H., Nozawa Y., Ebisawa N., Shimodaira M., Shimizu Y., Inoue K., Nagai Y.
SCRIPTA MATERIALIA   83 5-8   Jul 2014   [Refereed]
Shimizu Yasuo, Takamizawa Hisashi, Inoue Koji, Yano Fumiko, Nagai Yasuyoshi, Lamagna Luca, Mazzeo Giovanni, Perego Michele, Prati Enrico
NANOSCALE   6(2) 706-710   2014   [Refereed]
T. Toyama, A. Kuramoto, Y. Nagai, K. Inoue, Y. Nozawa, Y. Shimizu, Y. Matsukawa, M. Hasegawa, M. Valo
Journal of Nuclear Materials   449(1-3) 207-212   Jun 2014   [Refereed]
Microstructural origins of embrittlement in nuclear reactor pressure vessel steels.
Y. Nagai, K. Inoue, Y. Shimizu, and K. Nagumo
IMR KINKEN Research Highlights   2014 19   2014
T. Toyama, F. Takahama, A. Kuramoto, H. Takamizawa, Y. Nozawa, N. Ebisawa, M. Shimodaira, Y. Shimizu, K. Inoue, and Y. Nagai
Scripta Materialia   83(9) 5-1463   Sep 2014   [Refereed]
3D-APと陽電子消滅-LPSO構造の局所組成解析・空隙分析-
井上耕治、永井康介
応用物理学会第42回薄膜表面物理セミナーテキスト   17-24   2014
Depth Analysis of Ta/NiFe/Ta/CoFeB/Ta/NiFe Multilayer Thin Films: Comparison of Atom Probe Tomography and Auger Electron Spectroscopy
M. Kubota, Y. Ishida, K. Yanagiuchi, H. Takamizawa, Y. Nozawa, N. Ebisawa, Y. Shimizu, T. Toyama, K. Inoue, and Y. Nagai
Journal of Surface Analysis   20(3) 207-210   2014   [Refereed]
Z. Tang, T. Chiba, Y. Nagai, K. Inoue, T. Toyama, and M. Hasegawa
Appl. Phys. Lett.   104(17) 172101   Apr 2014   [Refereed]
構造材料の劣化機構解明へ向けた3次元アトムプローブの応用
外山健, 井上耕治, 永井康介
機能材料   34(6) 3-10   2014   [Refereed]
Y. Kobayashi, S. Kazama, K. Inoue, T. Toyama, Y. Nagai, K. Haraya, H. F. M. Mohamed, B. E. O’Rouke, N. Oshima, A. Kinomura, and R. Suzuki
The Journal of Physical Chemistry Part B   118(22) 6007-6014   Jun 2014   [Refereed]
Q. Xu, K. Sato, T. Yoshiie, T. Sano, H. Kawabe, Y. Nagai, K. Inoue, T. Toyama, N. Oshima, A. Kinomura and Y. Shirai
Journal of Physics: Conference Series   505 012030   2014   [Refereed]
K. Shima, Y. Tu, H. Takamizawa, H. Shimizu, Y. Shimizu, T. Momose, K. Inoue, Y. Nagai, and Y. Shimogaki
Appl. Phys. Lett.   105(13) 133512   Sep 2014   [Refereed]
H. X. Xu, K. Inoue, Y. Nagai, T. Toyama, Y. Matsukawa, A. Kuramoto, D. Egusa, E. Abe and B. J. Ye
J. Phys. Conf. Ser.   443 012029-1-012029-4   2013   [Refereed]
K. Inoue, H. Kataoka, Y. Nagai, M. Hasegawa, and Y. Kobayashi
J. Appl. Phys.   115(20) 204903   May 2014   [Refereed]
M. Shimodaira, T. Toyama, F. Takahama, N. Ebisawa, Y. Nozawa, Y. Shimizu, K. Inoue and Y. Nagai
Materials Transactions   55 1460-1463   2014   [Refereed]
Y. Shimizu, H. Takamizawa, K. Inoue, F. Yano, Y. Nagai, L. Lamagna, G. Mazzeo, M. Perego, and E. Prati
Nanoscale   6(2) 706-710   2014   [Refereed]
Nakama Kazuo, Furuya Shinichi, Sugita Kazuki, Inoue Koji, Shirai Yasuharu
TETSU TO HAGANE-JOURNAL OF THE IRON AND STEEL INSTITUTE OF JAPAN   99(5) 380-389   May 2013   [Refereed]
A. Kuramoto, T. Toyama, Y. Nagai, K. Inoue, Y. Nozawa, M. Hasegawa, M. Valo
Acta Mater.   61(14) 5236-5246   Aug 2013   [Refereed]
Three-dimensional elemental analysis in semiconductor-based actual devices with atom probe tomography.
Y. Shimizu, K. Inoue, and Y. Nagai
IMR KINKEN Research Highlights   2013 43-44   2013
Y. Ohno, K. Inoue, Y. Tokumoto, K. Kutsukake, I. Yonenaga, N. Ebisawa, H. Takamizawa, Y. Shimizu, K. Inoue, Y. Nagai, H. Yoshida, and S. Takeda
Applied Physics Letters   103(10) 102102/1-102102/4   Sep 2013   [Refereed]
K. Inoue, H. Kataoka, Y. Nagai, M. Hasegawa, and Y. Kobayashi
J. Appl. Phys.   114(15) 154904-1-154904-7   Oct 2013   [Refereed]
陽電子消滅および3次元アトムプローブによる原子炉圧力容器鋼の照射脆化機構に関する研究-フィンランド・ロビーザ炉監視試験片を例として―
外山健, 蔵本明, M. Valo, 野沢康子, 清水康雄, 井上耕治, 長谷川雅幸, 永井康介
陽電子科学   1 41-46   2013   [Refereed]
Y. Shimizu, H. Takamizawa, Y. Kawamura, M. Uematsu, T. Toyama, K. Inoue, E. E. Haller, K. M. Itoh, and Y. Nagai
J. Appl. Phys.   113(2) 026101   Jan 2013   [Refereed]
H. Takamizawa, K. Hoshi, Y. Shimizu, F. Yano, K. Inoue, S. Nagata, T. Shikama, Y. Nagai
Appl. Phys. Express.   6(6) 066602-1-066602-3   Jun 2013   [Refereed]
T. Toyama, Z. Tang, K. Inoue, T. Chiba, T. Ohkubo, K. Hono, Y. Nagai and M. Hasegawa
Phys. Rev. B   86(10) 104106   Sep 2012   [Refereed]
Yasuo SHIMIZU, Koji INOUE, Hisashi TAKAMIZAWA, Fumiko YANO, and Yasuyoshi NAGAI
J. Vac. Soc. Jpn.   56 340-347   2013   [Refereed]
K. Inoue, H. Takamizawa, Y. Shimizu, F. Yano, T. Toyama, A. Nishida, T. Mogami, K. Kitamoto, T. Miyagi, J. Kato, S. Akahori, N. Okada, M. Kato, H. Uchida, and Y. Nagai
Appl. Phys. Express   6(4) 046502   Apr 2013   [Refereed]
中間一夫、古谷真一、杉田一樹、井上耕治、白井泰治
鉄と鋼   99 380   2013   [Refereed]
H. Takamizawa, Y. Shimizu, K. Inoue, T. Toyama, F. Yano, A. Nishida, T. Mogami, N. Okada, M. Kato, H. Uchida, K. Kitamoto, T. Miyagi, J. Kato, and Y. Nagai
Appl. Phys. Lett.   100(25) 253504   Jun 2012   [Refereed]
H. Takamizawa, Y. Shimizu, K. Inoue, T. Toyama, N. Okada, M. Kato, H. Uchida, F. Yano, A. Nishida, T. Mogami and Y. Nagai
Appl. Phys. Lett.   99(13) 133502   Sep 2011   [Refereed]
Atom-probe-tomographic Studies on Silicon-Based Semiconductor Devices
K. Inoue, A. K. Kambham, D. Mangelinck, D. Lawrence, D. J. Larson
Microscopy Today   20(5) 38   2012   [Refereed]
レーザー3次元アトムプローブによる半導体材料中のドーパント分布解析
井上耕治、清水康雄、高見澤悠
日本物理学会誌   67 645   2012   [Refereed]
陽電子消滅法によるアルミニウム合金中の原子空孔挙動観察
井上耕治、白井泰治
低温物質科学研究センター誌   20 1   2012   [Refereed]
Y. Shimizu, H. Takamizawa, K. Inoue, T. Toyama, Y. Nagai, N. Okada, M. Kato, H. Uchida, F. Yano, T. Tsunomura, A. Nishida, and T. Mogami
Appl. Phys. Lett.   98(23) 232101   Jun 2011   [Refereed]
New Applications in Atom Probe Tomography
D. J. Larson, D. A. Reinhard, T. J. Prosa, D. Olson, D. Lawrence, P. H. Clifton, R. M. Ulfig, I. Martin, T. F. Kelly, V. S. Smentkowski, L. M. Gordon, D. Joester and K. Inoue
Microscopy and Microanalysis   18 926   2012   [Refereed]
H. Takamizawa, K. Inoue, Y. Shimizu, T. Toyama, F. Yano, T. Tsunomura, A. Nishida, T. Mogami, and Y. Nagai
Appl. Phys. Express   4(3) 036601   Mar 2011   [Refereed]
K. Inoue, N. Suzuki, T. Hyodo, Y. Nagai, and M. Hasegawa
J. Phys. Soc. Jpn.   80(5) 054709   May 2011   [Refereed]
K. Inoue, Y. Nagai, Z. Tang, T. Toyama, Y. Hosoda, A. Tsuto and M. Hasegawa
Phys. Rev. B   83(11) 115459   Mar 2011   [Refereed]
3D-AP法によるSi-MOSFET中不純物分布解析
清水康雄, 高見澤悠, 井上耕治, 外山健, 永井康介, 矢野史子, 西田彰男
日本学術振興会ナノプローブテクノロジー第167委員会   第63回研究会資料 50-57   2011   [Refereed]
K. Inoue, H. Takamizawa, K. Kitamoto, J. Kato, T. Miyagi, Y. Nakagawa, N. Kawasaki, N. Sugiyama, H. Hashimoto, Y. Shimizu, T. Toyama, Y. Nagai, and A. Karen
Appl. Phys. Express   4(11) 116601   Nov 2011   [Refereed]
K. Inoue, F. Yano, A. Nishida, H. Takamizawa, T. Tsunomura, Y. Nagai and M. Hasegawa
Ultramicroscopy   109(12) 1479-1484   Nov 2009   [Refereed]
K. Inoue, F. Yano, A. Nishida, H. Takamizawa, T. Tsunomura, Y. Nagai and M. Hasegawa
Appl. Phys. Lett.   95(4) 043502   Jul 2009   [Refereed]
3DAP法による炭素を共注入したシリコン基板中ホウ素分布の解析
清水康雄, 高見澤悠, 井上耕治, 外山健, 永井康介, 矢野史子, 角村貴昭, 西田彰男, 最上徹, 岡田徳行, 加藤幹雄, 内田博
第30回LSTテスティングシンポジウム会議録   305-309   2010   [Refereed]
外山健、永井康介、唐政、井上耕治、千葉利信、長谷川雅幸、大久保忠勝、宝野和博
TETSU TO HAGANE-JOURNAL OF THE IRON AND STEEL INSTITUTE OF JAPAN   95(2) 118-123   Feb 2009   [Refereed]
3次元アトムプローブ:その原理と応用-MOSFET不純物分布解析を例に-
永井康介, 高見澤悠, 外山健, 清水康雄, 井上耕治, 矢野史子, 角村貴昭, 西田彰男, 最上徹
応用物理学会結晶工学分科 第15回結晶工学セミナーテキスト   5-12   2010   [Refereed]
Y. Nagai, T. Toyama, Z. Tang, K. Inoue, T. Chiba, M. Hasegawa, S. Hirosawa, and T. Sato:
Phys. Rev. B   79(20) 201405   May 2009   [Refereed]
K. Inoue, F. Yano, A. Nishida, T. Tsunomura, T. Toyama, Y. Nagai and M. Hasegawa
Appl. Phys. Lett.   93(13) 133507-1-3   Oct 2008   [Refereed]
Ito K., Oka T., Kobayashi Y., Shirai Y., Wada K., Matsumoto M., Fujinami M., Hirade T., Honda Y., Hosomi H., Nagai Y., Inoue K., Saito H., Sakaki K., Sato K., Shimazu A., Uedono A.
POSITRON AND POSITRONIUM CHEMISTRY   607 248-+   2009   [Refereed]
3次元アトムプローブによるMOSトランジスタ中のドーパント分布解析
高見澤悠,井上耕治,矢野史子,西田彰男,永井康介,長谷川雅幸
第29回LSTテスティングシンポジウム会議録   371-375   2009   [Refereed]
K. Ito, T. Oka, Y. Kobayashi, Y. Shirai, K. Wada, M. Matsumoto, M. Fujinami, T. Hirade, Y. Honda, H. Hosomi, Y. Nagai, K. Inoue, H. Saito, K. Sakaki, K. Sato, A. Shimazu, and A. Uedono
Mater. Sci. Forum   607(2) 248-250   2009   [Refereed]
K. Inoue, F. Yano, A. Nishida, T. Tsunomura, T. Toyama, Y. Nagai, M. Hasegawa
Appl. Phys. Lett.   92(10) 103506-1-3   Mar 2008   [Refereed]
Z. Tang, T. Toyama, Y. Nagai, K. Inoue, Z. Q. Zhu, and M. Hasegawa
J. Phys.: Condens. Matter   20(44) 445203-1-5   Sep 2008   [Refereed]
K. Ito, T. Oka, Y. Kobayashi, Y. Shirai, K. Wada, M. Matsumoto, M. Fujinami, T. Hirade, Y. Honda, H. Hosomi, Y. Nagai, K. Inoue, H. Saito, K. Sakaki, K. Sato, A. Shimazu, and A. Uedono
J. Appl. Phys.   104(2) 026102   Jul 2008   [Refereed]
The Characterization of MgB2 Thin Film by Slow Positron Annihilation Spectroscopy
(26) C. Y. Lee, W. N. Kang, Y. Nagai, K. Inoue, and M. Hasegawa
J. Korean Vac. Soc.   17 160   2008   [Refereed]
K. Inoue, N. Suzuki, I.V. Bondarev, T. Hyodo
Phys. Rev. B   76 024304-1-024304-6   Jul 2007   [Refereed]
Z. Tang, Y. Nagai, K. Inoue, T. Toyama, T. Chiba, M. Saito, M. Hasegawa
Phys. Rev. Lett.   94(10) 106402   Mar 2005   [Refereed]
I.V. Bondarev, K. Inoue, N. Suzuki, T. Hyodo
Phys. Stat. Sol C   3867-3870   Jun 2007   [Refereed]
K. Inoue, N. Suzuki, T. Hyodo
Phys. Rev. B   71 134305   Apr 2005   [Refereed]
K. Inoue, Y. Sasaki, Y. Nagai, H. Ohkubo, Z. Tang, M. Hasegawa
Mater. Sci. Forum (POSITRON ANNIHILATION, ICPA-13, PROCEEDINGS)   445-6 304-306   2004   [Refereed]
H. Ohkubo, Y. Nagai, K. Inoue, Z. Tang, M. Hasegawa
Mater. Sci. Forum (POSITRON ANNIHILATION, ICPA-13, PROCEEDINGS)   445-6 165-167   2004   [Refereed]
Nagai Y., Inoue K., Tang Z., Yonenaga I., Chiba T., Saito M., Hasegawa M.,
Physica B-Condensed Matter   340 518-522   Dec 2003   [Refereed]
SASAKI Yuzuru, NAGAI Yasuyoshi, OHKUBO Hideaki, INOUE Koji, TANG Zheng, HASEGAWA Masayuki
Radiation Physics and Chemistry   68(3-4) 569-572   Oct 2003   [Refereed]
0312Rev
2D-ACAR apparatus installed in Tohoku University
NAGAI Yasuyoshi, INOUE Koji, OHKUBO Hideaki, TANG Zheng, HASEGAWA Masayuki
Proc. of International Workshop on Positron Studies of Defects in Semiconductors (PSSD-2002), Edited by M. Hasegawa, Z. Tang and Y. Nagai, Sept. 29-Oct. 4, 2002, Sendai, Japan [CD-ROM版]   245-250   2003   [Refereed]
0312Rev

Books etc

 
Single-Atom Nanoelectronics
Koji Inoue and Yasuyoshi Nagai (Part:Joint Work, Chapter 7)
Pan Stanford Publishing   Apr 2013   
試料分析講座.半導体・電子材料分析(日本分析化学会編)
井上耕治、清水康雄、永井康介 (Part:Joint Work, 第6章 三次元アトムプローブ 71-92頁)
丸善出版   2013   ISBN:978-4-621-08700-8

Conference Activities & Talks

 
3次元アトムプローブと透過電子顕微鏡を組み合わせたMg-TM-RE系LPSO/OD構造の局所組成分析
井上耕治、海老澤直樹、戸村恵子、吉田健太、永井康介、岸田恭輔、乾晴行、伊津野仁史、萩原幸司、江草大祐、阿部英司、山崎倫昭、河村能人
金属学会   23 Mar 2016   
陽電子消滅とアトムプローブを組み合わせた材料解析
井上耕治
物理学会   19 Mar 2016   
Analysis of local chemical composition in Mg-TM-RE alloys with LPSO/OD structure by atom probe tomography
K. Inoue, N. Ebisawa, K. Tomura, K. Yoshida, Y. Nagai, H. X. Xu, D. Egusa, E. Abe, K. Kishida, H. Inui, M. Yamasaki, Y. Kawamura
The 10th International Conference on Magnesium Alloys and Their Applications   11 Oct 2015   
3次元アトムプローブによるNi基耐熱合金のクリープ変形における微細組織変化観察
井上耕治、野沢康子、永井康介、米村光治
金属学会   16 Sep 2015   
3次元アトムプローブによるMg-TM-RE系LPSO/OD構造の局所組成分析
井上耕治、海老澤直樹、戸村恵子、許紅霞、永井康介
金属学会   18 Mar 2015   

Research Grants & Projects

 
鉄鋼材料中の組織観察および3次元元素分布解析
The Other Research Programs
Project Year: Apr 2012 - Today
LPSO-Mg合金中の局所組成解析
Grant-in-Aid for Scientific Research
Project Year: Apr 2012 - Today
3D analysis of dopant distribution in semiconductor devices
The Other Research Programs
Project Year: Apr 2007 - Today

Patents

 
2014-006113 : パーライト組織を含む鋼材の陽電子消滅法を用いた評価方法
白井 泰治 、井上 耕治 、清水 健一 、高村 伸栄

Others

 
Apr 2015   極低炭素鋼・複合組織鋼の歪時効中のCの存在形態の解明
3次元アトムプローブによる極低炭素鋼・複合組織鋼の歪時効中のCの存在形態の解明
Jul 2014   照射ジルコニウム合金の微細組織変化に関する研究
照射ジルコニウム合金の粒界偏析の研究
Oct 2013   焼付硬化型鋼板(BH鋼板)の歪時効中のCの存在形態の解明
焼付硬化型鋼板(BH鋼板)の歪時効中のCの存在形態の解明
Apr 2013   Ni基耐熱合金損傷過程のナノ欠陥モデルの構築
Ni基耐熱合金損傷過程のナノ欠陥モデルの構築
Apr 2013   半導体デバイスの微視的3次元構造の研究
アトムプローブによる半導体デバイスの微視的3次元構造観察