2006年
Development of cold-FEG with a nanotip for 200kV TEM/STEM
16th International Microscopy Congress (IMC16), Sapporo
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- 583
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- 記述言語
- 英語
- 掲載種別
- 研究発表ペーパー・要旨（国際会議）
倉田 博基
クラタ ヒロキ (Hiroki Kurata)
更新日: 03/26