2012年
Atomic-resolution characterization of oxides using electron microscopy
IUMRS-International Conference on Electronic Materials (IUMRS-ICEM 2012), Yokohama
- 記述言語
- 英語
- 掲載種別
- 研究発表ペーパー・要旨（国際会議）
倉田 博基
クラタ ヒロキ (Hiroki Kurata)
更新日: 03/26