産業財産権

特許権

補償光学素子の設定方法及び顕微鏡

株式会社ニコン, 国立大学法人北海道大学
  • 松爲 久美子
  • ,
  • 冨岡 貞祐
  • ,
  • 浜田 啓作
  • ,
  • 根本 知己
  • ,
  • 日比 輝正

出願番号
特願2013-160985
出願日
2013年8月2日
公開番号
特開2015-031812
公開日
2015年2月16日
特許番号/登録番号
特許第6178656号
登録日
発行日
2017年7月21日

リンク情報
J-GLOBAL
https://jglobal.jst.go.jp/detail?JGLOBAL_ID=201703005763021866
URL
http://jglobal.jst.go.jp/public/201703005763021866
ID情報
  • J-Global ID : 201703005763021866