国際会議 2015年12月11日 X線によるプリント回路基板検査におけるはんだ接合不良の検出 統計数理研究所共同研究リポート359 非侵襲生体信号の解析・モデル化技術とその周辺(3) 毛利 元昭, 安川 博, 内匠 逸 記述言語 日本語 会議種別 口頭発表（一般） 主催者 統計数理研究所 開催地 東京
