論文

2019年6月

Characterization of the Electrical Properties of an InN Epilayer Using Terahertz Time-Domain Spectroscopic Ellipsometry

Jpn. J. Appl. Phys.
  • K. Morino
  • ,
  • S. Arakawa
  • ,
  • T. Fujii
  • ,
  • S. Mouri
  • ,
  • T. Araki
  • ,
  • Y. Nanishi

58
SC
開始ページ
SCCB22/1-4
終了ページ
DOI
10.7567/1347-4065/ab1394

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https://doi.org/10.7567/1347-4065/ab1394