2018年8月
X-ray Phase Imaging by Two-Beam Interferometry with Full-Field X-ray Microscope and Transmission Grating
Microscopy and Microanalysis
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- 巻
- 24
- 号
- S2
- 開始ページ
- 218
- 終了ページ
- 219
- 記述言語
- 英語
- 掲載種別
- 研究論文（国際会議プロシーディングス）