2018年8月
X-Ray Phase Nano-tomography by FZP-based X-Ray Microscopy Combined with Talbot Interferometry
Yanlin Wu, Hidekazu Takano, Karol Vegso, Masato Hoshino, Koichi Matsuo, Atsushi Momose
- 巻
- 24
- 号
- S2
- 開始ページ
- 224
- 終了ページ
- 225
- 記述言語
- 英語
- 掲載種別
- 研究論文（国際会議プロシーディングス）