査読有り 2009年10月 Laser terahertz emission microscope for inspecting interconnect defects in semiconductor devices Masatsugu Yamashita, Chiko Otani, Sunmi Kim, Hironaru Murakami, Masayoshi Tonouchi, Toru Matsumoto, Yoshihiro Midoh, Katsuyoshi Miura, Koji Nakamae, Kiyoshi Nikawa 記述言語 英語 掲載種別 エクスポート BibTeX RIS