査読有り 筆頭著者 2019年2月 Image quality enhancement of a CD-SEM image using conditional generative adversarial networks SPIE Advanced Lithography 10959-10 Y. Midoh, K. Nakamae 記述言語 英語 掲載種別 研究論文(国際会議プロシーディングス) エクスポート BibTeX RIS