2006年11月1日
近接端子直流電位差法による表面き裂の定量的非破壊評価
非破壊検査
- 巻
- 55
- 号
- 11
- 開始ページ
- 567
- 終了ページ
- 570
- 記述言語
- 日本語
- 掲載種別
- 記事・総説・解説・論説等（学術雑誌）
- 出版者・発行元
- 日本非破壊検査協会
- リンク情報
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- CiNii Articles
- http://ci.nii.ac.jp/naid/10018345176
- CiNii Books
- http://ci.nii.ac.jp/ncid/AN00208370
- URL
- http://id.ndl.go.jp/bib/8561784
- ID情報
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- ISSN : 0367-5866
- CiNii Articles ID : 10018345176
- CiNii Books ID : AN00208370