温暁青 (Xiaoqing Wen) - マイポータル

基本情報

所属: 九州工業大学大学院情報工学研究院情報・通信工学研究系教授
: (兼任)大学院情報工学府情報創成工学専攻長
: (兼任)大学院情報工学研究院情報創成工学研究系長

学位: 博士（工学）(大阪大学)
修士（工学）(広島大学)
工学学士(清華大学)

J-GLOBAL ID: 200901080980799621
researchmap会員ID: 5000071068

外部リンク: https://www.vlab.cse.kyutech.ac.jp/~wen/index.htm

研究キーワード

研究分野

経歴

2013年 - 2017年

九州工業大学ディペンダブル集積システム研究センターセンター長
2013年 - 2017年

Director,Research Center for Dependable Integrated Systems,Kyushu Institute of Technology
2017年

九州工業大学大学院情報工学研究院情報創成工学研究系長
2017年

九州工業大学大学院情報工学府情報創成工学専攻長
2016年

Universiti Teknologi Malaysia (UTM)Embedded System Research Laboratory Asscociate Member
2016年

Asscociate Member,Embedded System Research Laboratory,Universiti Teknologi Malaysia (UTM)
2012年 - 2013年

九州工業大学大学院情報工学府情報創成工学専攻専攻長
2012年 - 2013年

Department Chair,Department of Creative Informatics,Graduate School of Computer Science and Systems Engineering,Kyushu Institute of Technology
2008年 - 2010年

九州工業大学大学院情報工学府情報創成工学専攻専攻長
2008年 - 2010年

Department Chair,Department of Creative Informatics,Graduate School of Computer Science and Systems Engineering,Kyushu Institute of Technology
2007年 - 2008年

九州工業大学情報工学研究科教授
2007年 - 2008年

Professor,Graduate School of Computer Science and Systems Engineering,Kyushu Institute of Technology
2008年

九州工業大学大学院情報工学研究院情報創成工学研究系教授
2008年

Professor,Department of Creative Informatics,Faculty of Computer Science and Systems Engineering,Kyushu Institute of Technology
2004年 - 2007年

九州工業大学情報工学研究科助教授
2004年 - 2007年

Associate Professor,Graduate School of Computer Science and Systems Engineering,Kyushu Institute of Technology
1998年 - 2003年

SynTest Technologies社副社長（VP）兼最高技術責任者（CTO）
1998年 - 2003年

Vice President (VP) and Chief Technoilogy Officer (CTO),SynTest Techniologies, Inc.
1993年 - 1997年

秋田大学鉱山学部（現理工学部）情報工学科講師
1993年 - 1997年

Lecturer,Department of Information Engineering Akita University

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学歴

- 1993年

大阪大学, 工学研究科, 応用物理学
- 1993年

大阪大学
- 1990年

広島大学, 工学研究科, 情報工学
- 1990年

広島大学
- 1986年

清華大学, 計算機科学技術学科, 計算機科学技術
- 1986年

Tsinghua University, Computer Science and Technology

委員歴

408

2018年 - 2019年

International Symposium on VLSI Design, Automation, and Test (VLSI-DAT), Program Committee Member (2019)
2018年 - 2019年

International Conference on VLSI Design (VLSID), Program Committee Member (2019)
2018年 - 2019年

IEEE European Test Symposium (ETS), Program Committee Member (2019)
2018年 - 2019年

International Symposium on VLSI Design, Automation, and Test (VLSI-DAT), Program Committee Member (2019)
2018年 - 2019年

International Conference on VLSI Design (VLSID), Program Committee Member (2019)
2018年 - 2019年

IEEE European Test Symposium (ETS), Program Committee Member (2019)
2017年 - 2018年

IEEE International Test Conference in Asia (ITC-Asia), Program Committee Co-Chair (2018)
2017年 - 2018年

International Symposium on VLSI Design, Automation, and Test (VLSI-DAT), Program Committee Member (2018)
2017年 - 2018年

International Conference on VLSI Design (VLSID), Program Committee Member (2018)
2017年 - 2018年

IEEE Latin-American Test Symposium (LATS), Regional Publicity Co-Chair (2018)
2017年 - 2018年

IEEE Computer Society Annual Symposium on VLSI (ISVLSI), Program Committee Member (2018)
2017年 - 2018年

IEEE International Conference on Computer Design (ICCD), Program Committee Member (2018)
2017年 - 2018年

IEEE European Test Symposium (ETS), Program Committee Member (2018)
2017年 - 2018年

IEEE International Conference on Design & Test of Integrated Systems in Nanoscale Technology (DTIS), Program Committee Member (2018)
2017年 - 2018年

IEEE Workshop on RTL and High Level Testing (WRTLT), Program Committee Member (2018)
2017年 - 2018年

IEEE Asian Test Symposium (ATS), Program Committee Co-Chair (2018)
2017年 - 2018年

IEEE International Test Conference (ITC), Program Committee Member (2018)
2017年 - 2018年

IEEE International Test Conference in Asia (ITC-Asia), Program Committee Co-Chair (2018)
2017年 - 2018年

International Symposium on VLSI Design, Automation, and Test (VLSI-DAT), Program Committee Member (2018)
2017年 - 2018年

International Conference on VLSI Design (VLSID), Program Committee Member (2018)

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受賞

論文

Thermal-Aware Small-Delay Defect Testing in Integrated Circuits for Mitigating Overkill

Dong Xiang, Kele Shen, Bhargab B. Bhattacharya, Xiaoqing Wen, Xijiang Lin

IEEE TRANSACTIONS ON COMPUTER-AIDED DESIGN OF INTEGRATED CIRCUITS AND SYSTEMS 35(3) 499-512 2016年3月査読有り
Low-Power Testing for Low-Power Devices

Xiaoqing Wen

2010 IEEE 25TH INTERNATIONAL SYMPOSIUM ON DEFECT AND FAULT TOLERANCE IN VLSI SYSTEMS (DFT 2010) 261-261 2010年査読有り
Theoretical studies on stable geornetries of C78O6 based on C-2 nu-C-78

W. Zhang, S. Wu, X. Wen

INDIAN JOURNAL OF CHEMISTRY SECTION A-INORGANIC BIO-INORGANIC PHYSICAL THEORETICAL & ANALYTICAL CHEMISTRY 46(12) 1911-1916 2007年12月査読有り
Embedded tutorial on low power test

Nicola Nicolici, Xiaoqing Wen

ETS 2007: 12TH IEEE EUROPEAN TEST SYMPOSIUM, PROCEEDINGS 202-+ 2007年査読有り
Analysis of the exchange of groundwater and river water by using Radon-222 in the middle Heihe Basin of northwestern China

Y Wu, Wen, X, Y Zhang

ENVIRONMENTAL GEOLOGY 45(5) 647-653 2004年3月査読有り
Fault diagnosis for physical defects of unknown behaviors

X. Wen, H. Tamamoto, K. K. Saluja, K. Kinoshita

Proceedings of the Asian Test Symposium 2003- 236-241 2003年査読有り

MISC

312

A Method to Detect Bit Flips in a Soft-Error Resilient TCAM

Infall Syafalni, Tsutomu Sasao, Xiaoqing Wen

IEEE Transactions on Computer-Aided Design of Integrated Circuits and Systems 37(6) 1185-1196 2018年6月1日
A Method to Detect Bit Flips in a Soft-Error Resilient TCAM

Infall Syafalni, Tsutomu Sasao, Xiaoqing Wen

IEEE Transactions on Computer-Aided Design of Integrated Circuits and Systems 37(6) 1185-1196 2018年6月1日
Scan chain grouping for mitigating ir-drop-induced test data corruption

Yucong Zhang, Stefan Holst, Xiaoqing Wen, Kohei Miyase, Seiji Kajihara, Jun Qian

Proceedings of the Asian Test Symposium 140-145 2018年1月24日
Scan chain grouping for mitigating ir-drop-induced test data corruption

Yucong Zhang, Stefan Holst, Xiaoqing Wen, Kohei Miyase, Seiji Kajihara, Jun Qian

Proceedings of the Asian Test Symposium 140-145 2018年1月24日
The impact of production defects on the soft-error tolerance of hardened latches

Holst S, Ma R, Wen X

Proceedings of the European Test Workshop 2018-May 1-6 2018年
Bit-Flip Errors Detection using Random Partial Don't-Care Keys for a Soft-Error-Tolerant TCAM

I. Syafalni, T. Sasao, X. Wen

Proceedings of the 27th International Workshop on Logic and Synthesis 124-131 2018年
A Double-Node-Upset Self-Recoverable Latch Design for High Performance and Low Power Application

A. Yan, K. Yang, Z. Huang, J. Zhang, X. Fang, X. Wen

IEEE Transactions on Circuits and Systems II: Express Briefs 2018年
The Impact of Production Defects on the Soft-Error Tolerance of Hardened Latches

S. Holst, R. Ma, X. Wen

Proceedings of IEEE European Test Symposium 2018年
Design Automation for Legacy Circuits

I. Syafalni, K. Wakasugi, T. Yang, T. Sasao, X. Wen

Proceedings of the 21st Workshop on Synthesis and System Integration of Mixed Information Technologies 174-179 2018年
Bit-Flip Errors Detection using Random Partial Don't-Care Keys for a Soft-Error-Tolerant TCAM

I. Syafalni, T. Sasao, X. Wen

Proceedings of the 27th International Workshop on Logic and Synthesis 124-131 2018年
A Double-Node-Upset Self-Recoverable Latch Design for High Performance and Low Power Application

A. Yan, K. Yang, Z. Huang, J. Zhang, X. Fang, X. Wen

IEEE Transactions on Circuits and Systems II: Express Briefs 2018年
The Impact of Production Defects on the Soft-Error Tolerance of Hardened Latches

S. Holst, R. Ma, X. Wen

Proceedings of IEEE European Test Symposium 2018年
Design Automation for Legacy Circuits

I. Syafalni, K. Wakasugi, T. Yang, T. Sasao, X. Wen

Proceedings of the 21st Workshop on Synthesis and System Integration of Mixed Information Technologies 174-179 2018年
Analysis and mitigation or IR-Drop induced scan shift-errors

Stefan Holst, Eric Schneider, Koshi Kawagoe, Michael A. Kochte, Kohei Miyase, Hans-Joachim Wunderlich, Seiji Kajihara, Xiaoqing Wen

Proceedings - International Test Conference 2017- 1-8 2017年12月29日
Analysis and mitigation or IR-Drop induced scan shift-errors

Stefan Holst, Eric Schneider, Koshi Kawagoe, Michael A. Kochte, Kohei Miyase, Hans-Joachim Wunderlich, Seiji Kajihara, Xiaoqing Wen

Proceedings - International Test Conference 2017- 1-8 2017年12月29日
Vernier ring based pre-bond through silicon vias test in 3D ICs

Tianming Ni, Mu Nie, Huaguo Liang, Jingchang Bian, Xiumin Xu, Xiangsheng Fang, Zhengfeng Huang, Xiaoqing Wen

IEICE ELECTRONICS EXPRESS 14(18) 2017年9月
Vernier ring based pre-bond through silicon vias test in 3D ICs

Tianming Ni, Mu Nie, Huaguo Liang, Jingchang Bian, Xiumin Xu, Xiangsheng Fang, Zhengfeng Huang, Xiaoqing Wen

IEICE ELECTRONICS EXPRESS 14(18) 2017年9月
Power-aware testing for low-power VLSI circuits

Xiaoqing Wen

2016 13th IEEE International Conference on Solid-State and Integrated Circuit Technology, ICSICT 2016 - Proceedings 585-588 2017年7月31日
GPU-Accelerated Simulation of Small Delay Faults

Eric Schneider, Michael A. Kochte, Stefan Holst, Xiaoqing Wen, Hans-Joachim Wunderlich

IEEE TRANSACTIONS ON COMPUTER-AIDED DESIGN OF INTEGRATED CIRCUITS AND SYSTEMS 36(5) 829-841 2017年5月
GPU-Accelerated Simulation of Small Delay Faults

Eric Schneider, Michael A. Kochte, Stefan Holst, Xiaoqing Wen, Hans-Joachim Wunderlich

IEEE TRANSACTIONS ON COMPUTER-AIDED DESIGN OF INTEGRATED CIRCUITS AND SYSTEMS 36(5) 829-841 2017年5月

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書籍等出版物

第３章 "半導体製品の分類"、はかる×わかる半導体半導体テスト技術者検定3級問題集

日経BPコンサルティング 2014年 (ISBN: 9784864430715)
Chapter 9 "Low-Power Testing for 2D/3D Devices and Systems" in Design of 3D Integrated Circuits and Systems

CRC Press 2014年 (ISBN: 9781466589407)
Chapter 9 "Low-Power Testing for 2D/3D Devices and Systems" in Design of 3D Integrated Circuits and Systems

CRC Press 2014年 (ISBN: 9781466589407)
第３章 "半導体製品の分類"、はかる×わかる半導体入門編

日経BPコンサルティング 2013年 (ISBN: 9784864430395)
Chapter 20 "Low-Power Testing for Low-Power LSI Circuits", Advanced Circuits for Emerging Technologies

John Wiley & Sons 2012年 (ISBN: 9780470900055)
Chapter 20 "Low-Power Testing for Low-Power LSI Circuits", Advanced Circuits for Emerging Technologies

John Wiley & Sons 2012年 (ISBN: 9780470900055)
Power-Aware Testing and Test Strategies for Low Power Devices

Springer 2009年 (ISBN: 9781441909275)
Chapter 3: "Low-Power Test Generation" in Power-Aware Testing and Test Strategies for Low Power Devices

Springer 2009年 (ISBN: 9781441909275)
Chapter 7: "Test Synthesis" in Electronic Design Automation: Synthesis, Verification, and Test

Morgan Kaufmann Publishers 2009年 (ISBN: 9780123743640)
Power-Aware Testing and Test Strategies for Low Power Devices

Springer 2009年 (ISBN: 9781441909275)
Chapter 3: "Low-Power Test Generation" in Power-Aware Testing and Test Strategies for Low Power Devices

Springer 2009年 (ISBN: 9781441909275)
Chapter 7: "Test Synthesis" in Electronic Design Automation: Synthesis, Verification, and Test

Morgan Kaufmann Publishers 2009年 (ISBN: 9780123743640)
Chapter 7: "Low-Power Testing" in Advanced SOC Test Architectures Towards Nanometer Designs

Morgan Kaufmann Publishers 2007年 (ISBN: 9780123739735)
Chapter 7: "Low-Power Testing" in Advanced SOC Test Architectures Towards Nanometer Designs

Morgan Kaufmann Publishers 2007年 (ISBN: 9780123739735)
半導体デバイスの評価・テスト・解析技術

九州地域産業活性化センター 2006年
Chapter 2: "Design for Testability" in VLSI Test Principles and Architectures: Design for Testability

Morgan Kaufmann Publishers 2006年 (ISBN: 9780123705976)
VLSI Test Principles and Architectures: Design for Testability

Morgan Kaufmann Publishers 2006年 (ISBN: 9780123705976)
半導体テスト技術者育成実証講座ベーシックコース

大分県産業創造機構 2006年
半導体テスト技術者育成実証講座ベーシックコース

大分県産業創造機構 2006年
Chapter 2: "Design for Testability" in VLSI Test Principles and Architectures: Design for Testability

Morgan Kaufmann Publishers 2006年 (ISBN: 9780123705976)

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講演・口頭発表等

実速度スキャンテストにおける高品質なキャプチャ安全性保障型テスト生成について

第66回 FTC 研究会 2012年
New Test Partition Approach for Rotating Test with Lower Rate

第66回 FTC 研究会 2012年
テストベクトル変換手法を用いた低消費電力LOS実速度テスト

電子情報通信学会技術研究報告. DC, ディペンダブルコンピューティング 2011年
実速度スキャンテストベクトルに対する遷移タイミング考慮キャプチャ安全性判定

電子情報通信学会技術研究報告 2011年
知識ベースシステムに基づいたLSIテスト不良原因解析について

電子情報通信学会技術研究報告 2010年
部分X分解によるX故障モデルを用いた故障診断手法の高速化

電子情報通信学会技術研究報告. DC, ディペンダブルコンピューティング 2010年
3値テストパターンに対する遅延テスト品質評価とX割当について

電子情報通信学会技術研究報告. DC, ディペンダブルコンピューティング 2010年
フィールドテストにおける巡回テストとテスト集合印加順序について

第62回 FTC 研究会資料集 2010年
劣化検知テストにおけるパス選択について

電子情報通信学会技術研究報告, VLD2009-65 2009年
信号値遷移削減のためのドントケア判定率の最適化に関する研究

電子情報通信学会技術研究報告 VLD2009-55 2009年
実速度スキャンテストにおけるクリティカルエリア特化型IR-Drop削減手法

平成21年度電気関係学会九州支部連合大会予稿集 2009年
ブロードキャストスキャン圧縮環境下における実速度テストに対するIR-Drop削減Post-ATPG手法

第61回 FTC 研究会資料集 2009年
先端LSI回路向け低消費電力テスト技術の研究開発

福岡・長野クラスターマッチングフォーラム 2009 2009年
論理回路における劣化故障の発生しやすい箇所の推定について

第60回 FTC 研究会資料集 2009年
実速度スキャンテストにおけるキャプチャセーフテスト生成手法について

電子情報通信学会技術研究報告 2008年
実速度スキャンテストにおけるキャプチャ時消費電力削減手法

第58回 FTC 研究会資料集 2008年
3値論理シミュレーションにおける遅延計算について

第59回 FTC 研究会資料集 2008年
実速度スキャンテストにおけるキャプチャ時の低消費電力テスト生成手法について

デザインガイア2007 ディペンダブルコンピューティング研究会, 信学技法, IEICE Technical Report 2007年
Per-Test X故障診断手法の診断分解能向上に関する研究

LSIテスティイングシンポジウム2007会議録 2007年
実速度スキャンテストにおけるキャプチャ時の低消費電力テスト生成手法について

信学技法, IEICE Technical Report 2007年

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所属学協会

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Works(作品等)

高品質な低電力LSI創出に貢献するシフト電力安全型スキャンテスト方式に関する研究

2017年 - 2021年
hift-Power-Safe Scan Test Methodology for High-Quality Low-Power Circuits

2017年 - 2021年
次世代低電力LSI創出のための誤テスト回避型高品質テスト方式に関する研究

2015年 - 2018年
High-Quality False-Test-Avoidance Test for Next-Generation Low-Power LSI Circuits

2015年 - 2018年
体内埋込み型医療機器向けLSI回路のための極低電力自己テスト方式に関する研究

2013年 - 2018年
Ultra-Low-Power Built-In Self-Test for LSIs in Implantable Medical Devices

2013年 - 2018年
チュートリアル @ ISCAS 2018 (Florence, Italy)

2018年
チュートリアル @ LATS 2018 (Sao Paulo, Brazil)

2018年
Power-Aware Testing in the Era of IoT

2018年
テストクロック危険性の検出と除去に基づく高品質LSIテスト方式に関する研究

2015年 - 2017年
Research on High-Quality LSI Test Methodology based on Checking and Removal of Test Clock Risks

2015年 - 2017年
チュートリアル @ ATS 2017 (Taipei, Taiwan)

2017年
Power-Aware Testing in the Era of IoT

2017年
高品質・低コストＬＳＩの創出に貢献する論理スイッチング均衡型テストに関する研究

2012年 - 2015年
Research on Logic Switching Activity Balanced Test for High-Quality Low-Cost LSIs

2012年 - 2015年
Nano-CMOS LSI 回路の実現に貢献する先端テスト技術の研究開発

2011年 - 2015年
Advanced Test Technology Development for Realizing Nano-CMOS LSI Circuits

2011年 - 2015年
フィールド高信頼化のための回路・システム機構

2008年 - 2014年
次世代低消費電力ＬＳＩ回路のための電力調整型テスト方式に関する研究

2010年 - 2013年
Power-Adjustment-Based Testing for Next-Generation Low-Power LSI Circuits

2010年 - 2013年

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共同研究・競争的資金等の研究課題

高信頼LSI創出のための欠陥考慮型耐ソフトエラー技術に関する研究

日本学術振興会科学研究費助成事業基盤研究(B) 2021年4月 - 2025年3月

温暁青, Holst Stefan, 宮瀬紘平, 梶原誠司
高品質な低電力LSI創出に貢献するシフト電力安全型スキャンテスト方式に関する研究

日本学術振興会科学研究費助成事業基盤研究(B) 2017年4月 - 2021年3月

温暁青, 梶原誠司, 宮瀬紘平, Holst Stefan
次世代低電力LSI創出のための誤テスト回避型高品質テスト方式に関する研究

日本学術振興会科学研究費助成事業挑戦的萌芽研究 2015年4月 - 2018年3月

温暁青, 梶原誠司, 宮瀬紘平, Holst Stefan, 浜田周治, 羽立幸司
体内埋込み型医療機器向けLSI回路のための極低電力自己テスト方式に関する研究

日本学術振興会科学研究費助成事業基盤研究(B) 2013年4月 - 2018年3月

温暁青, 宮瀬紘平, Holst Stefan, 梶原誠司, 樹下行三, 相京隆, 高木範明
高品質・低コストＬＳＩの創出に貢献する論理スイッチング均衡型テストに関する研究

日本学術振興会科学研究費助成事業挑戦的萌芽研究 2012年4月 - 2015年3月

温暁青, 宮瀬紘平, 梶原誠司
LSI高信頼性設計

共同研究 2014年
LSI High Reliability Design

Cooperative Research 2014年
次世代低消費電力LSI回路のための電力調整型テスト方式に関るす研究

日本学術振興会科学研究費助成事業基盤研究(B) 2010年 - 2012年

温暁青, 梶原誠司, 宮瀬紘平
VLSIの高品質フィールドテストに関する研究

日本学術振興会科学研究費助成事業基盤研究(B) 2009年 - 2012年

梶原誠司, 温暁青, 宮瀬紘平
次世代LSIのための信号劣化回避型テスト方式に関する研究

日本学術振興会科学研究費助成事業基盤研究(C) 2007年 - 2009年

温暁青, 梶原誠司
LSI歩留まり向上のための誤テスト回避型テスト方式に関する研究

日本学術振興会科学研究費助成事業基盤研究(C) 2005年 - 2006年

温暁青, 梶原誠司
マルチフォールトモデルを対象としたLSIのテストに関する研究

日本学術振興会科学研究費助成事業基盤研究(C) 2004年 - 2006年

梶原誠司, 温暁青
LSI低電力テスト

2004年
Low-Power LSI Test

2004年
VLSIの電流テスト容易化設計と電流波形による故障検出に関する研究

日本学術振興会科学研究費助成事業奨励研究(A) 1995年 - 1995年

温暁青
LSI故障診断

1993年
LSIテスト容易化設計

1993年
LSIテスト生成

1993年
LSI Fault Diagnosis

1993年
LSI Design for Testability

1993年

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産業財産権

231

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