論文

2017年10月26日

Quantification of Surface Electron Trapping of GaN Transistors by Using Operando Soft X-ray Photoelectron Nanospectroscopy

ISSS-8 2017
  • H. Fukidome
  • K. Omika
  • Y. Tateno
  • T. Kouchi
  • T. Komatani
  • N. Nagamura
  • S. Konno
  • Y. Takahashi
  • M. Kotsugi
  • K. Horiba
  • M. Suemitsu
  • M. Oshima
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記述言語
英語
掲載種別
研究論文（国際会議プロシーディングス）
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