重藤知夫 (Tomoo Sigehuzi) - マイポータル

基本情報

所属: 独立行政法人産業技術総合研究所計量標準総合センター連携推進室連携主幹

学位: 博士（工学）(東京大学)

J-GLOBAL ID: 200901099821182713
researchmap会員ID: 5000086636

外部リンク: https://unit.aist.go.jp/nmij/info/researcher/Sigehuzi_Tomoo/

研究キーワード

走査プローブ顕微鏡ナノ粒子凍結乾燥近接場

研究分野

ナノテク・材料 / 薄膜、表面界面物性 / 走査プローブ顕微鏡、ナノ粒子、近接場

委員歴

2023年4月 - 2026年3月

日本学術振興会 R053 設計・計測・解析の協調プラットフォーム委員会, 幹事
2018年4月 - 2023年3月

日本学術振興会産学協力研究委員会計測プラットフォーム第193委員会, 幹事
2015年6月 - 2017年9月

日本学術振興会「イノベーション創出に向けた計測分析プラットフォーム戦略の構築」に関する研究開発専門委員会, 幹事補佐

論文

微粒子測定のための凍結乾燥法

重藤知夫

表面と真空 68(1) 9-14 2025年1月査読有り招待有り筆頭著者
計測分析プラットフォーム実現のための共通データフォーマットの標準化

重藤知夫, 安永卓生, 永富隆清, 藤本俊幸, 一村信吾

顕微鏡 69(1) 20-27 2024年4月査読有り招待有り筆頭著者
Homogeneity verification of samples produced via Sandwich freeze-drying

Tomoo Sigehuzi

Colloids and Surfaces A: Physicochemical and Engineering Aspects 671 131596-131596 2023年8月査読有り
計測分析機器の出力データフォーマット共通化

一村信吾, 重藤知夫, 安永卓生, 井上信介

応用物理 92(3) 142-146 2023年3月査読有り
Research Activities of Nanodimensional Standards Using Atomic Force Microscopes, Transmission Electron Microscope, and Scanning Electron Microscope at the National Metrology Institute of Japan

Ichiko Misumi, Ryosuke Kizu, Hiroshi Itoh, Kazuhiro Kumagai, Keita Kobayashi, Tomoo Sigehuzi

Nanomanufacturing and Metrology 2021年11月4日
ナノ材料適正管理のための複合計測システムの開発

一村信吾, 加藤晴久, 堀池重吉, 杉沢寿志, 黒河明, 熊谷和博, 白川部喜春, 重藤知夫, 山口哲司, 高橋かより …

ぶんせき 2020(10) 366-373 2020年10月
Characterization of the Volume-based or Number-based Size Distribution for Silica Nanoparticles Using a Unique Combination of Online Dynamic Light Scattering Having a Uni-tau Multi-bit Correlator and High-resolution Centrifugal Field-Flow Fractionation Separator

Tetsuji YAMAGUCHI, Tetsuya MORI, Kengo AOKI, Ryutaro ODA, Masatoshi YASUTAKE, Ayako NAKAMURA, Kayori TAKAHASHI, Tomoo SIGEHUZI, Haruhisa KATO

Analytical Sciences 36(6) 761-768 2020年6月10日査読有り
Depositing nanoparticles on a silicon substrate using a freeze drying technique

Tomoo Sigehuzi

JOURNAL OF CHEMICAL PHYSICS 147(8) 5 2017年8月査読有り
Surface measurement by dual-probe scanning near-field optical microscopy

Tomoo Sigehuzi

e-Journal of Surface Science and Nanotechnology 10 426-430 2012年査読有り
Coarsening mechanism of phase separation caused by a double temperature quench in an off-symmetric binary mixture

T Sigehuzi, H Tanaka

PHYSICAL REVIEW E 70(5) 8 2004年11月査読有り
Coarsening mechanism of phase separation caused by a double temperature quench in an off-symmetric binary mixture

Tomoo Sigehuzi, Hajime Tanaka

Physical Review E - Statistical Physics, Plasmas, Fluids, and Related Interdisciplinary Topics 70(5) 8 2004年査読有り
SPINODAL DECOMPOSITION OF A SYMMETRICAL BINARY-FLUID MIXTURE IN QUASI 2 DIMENSIONS - LOCAL ORIENTATIONAL ORDERING OF FLUID TUBES

H TANAKA, T SIGEHUZI

PHYSICAL REVIEW E 52(1) 829-834 1995年7月査読有り
PERIODIC SPINODAL DECOMPOSITION IN A BINARY POLYMERIC FLUID MIXTURE

H TANAKA, T SIGEHUZI

PHYSICAL REVIEW LETTERS 75(5) 874-877 1995年7月査読有り
SURFACE-PATTERN EVOLUTION IN A SWELLING GEL UNDER A GEOMETRICAL CONSTRAINT - DIRECT OBSERVATION OF FOLD STRUCTURE AND ITS COARSENING DYNAMICS

H TANAKA, T SIGEHUZI

PHYSICAL REVIEW E 49(1) R39-R42 1994年1月査読有り
GROWTH LAW OF RODLIKE MICELLES - FLUORESCENCE RECOVERY AFTER FRINGE-PATTERN PHOTOBLEACHING STUDY

T SIGEHUZI, M KADONAGA, J YAMAMOTO, K OKANO

JOURNAL OF THE PHYSICAL SOCIETY OF JAPAN 61(11) 4033-4040 1992年11月査読有り

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