重藤知夫 (Tomoo Sigehuzi) - マイポータル - researchmap

基本情報

所属: 独立行政法人産業技術総合研究所物質計測標準研究部門ナノ構造計測標準研究グループ主任研究員

学位: 博士（工学）(東京大学)

J-GLOBAL ID: 200901099821182713

外部リンク: http://www.aist.go.jp/RESEARCHERDB/cgi-bin/worker_detail.cgi?call=namae&rw_id=T78542104

研究キーワード

1

走査プローブ顕微鏡ナノ粒子近接場

研究分野

1

ナノテク・材料 / 薄膜、表面界面物性 / 走査プローブ顕微鏡、ナノ粒子、近接場

委員歴

1

2018年4月 - 現在

日本学術振興会産学協力研究委員会計測プラットフォーム第193委員会幹事

論文

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Characterization of the Volume-based or Number-based Size Distribution for Silica Nanoparticles Using a Unique Combination of Online Dynamic Light Scattering Having a Uni-tau Multi-bit Correlator and High-resolution Centrifugal Field-Flow Fractionation Separator

Tetsuji YAMAGUCHI, Tetsuya MORI, Kengo AOKI, Ryutaro ODA, Masatoshi YASUTAKE, Ayako NAKAMURA, Kayori TAKAHASHI, Tomoo SIGEHUZI, Haruhisa KATO

Analytical Sciences 36(6) 761 - 768 2020年6月10日査読有り
Depositing nanoparticles on a silicon substrate using a freeze drying technique

Tomoo Sigehuzi

JOURNAL OF CHEMICAL PHYSICS 147(8) 5 2017年8月査読有り
Surface measurement by dual-probe scanning near-field optical microscopy

Tomoo Sigehuzi

e-Journal of Surface Science and Nanotechnology 10 426 - 430 2012年査読有り
Coarsening mechanism of phase separation caused by a double temperature quench in an off-symmetric binary mixture

T Sigehuzi, H Tanaka

PHYSICAL REVIEW E 70(5) 8 2004年11月査読有り
Coarsening mechanism of phase separation caused by a double temperature quench in an off-symmetric binary mixture

Tomoo Sigehuzi, Hajime Tanaka

Physical Review E - Statistical Physics, Plasmas, Fluids, and Related Interdisciplinary Topics 70(5) 8 2004年査読有り

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所属学協会

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